电阻应变测量技术课件.ppt

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1、前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。第三章电阻应变测量技术前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。一、电阻应变测试原理用电阻应变片作为传感元件，将应变片粘贴或安置在构件表面上，随着构件的变形，应变片敏感栅也相应变形，将被测对象表面指定点的应变转换成电阻变化。电阻应变仪将电

2、阻变化转换成电压（或电流）信号，经放大器放大后由指示仪表显示或记录仪记录，也可输入到计算机等装置进行数据处理，将最后结果打印或显示出来。前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-1概述二、静态测量与动态测量按载荷性质，电阻应变测量可分为静态测量与动态测量。1.静态测量对恒定的载荷或短时稳定的载荷的测量2.动态测量对载荷在2-5000Hz范围内变化的测量前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-

3、1概述三、电阻应变测量的优缺点1.优点（1）测量范围广、灵敏度和精确度高；（2）频率响应快，机械滞后很小；（3）对被测物体性状影响小；（4）适用范围广；（5）能实现远距离测量和自动记录。2.缺点（1）常规应变片在大应变状态下非线性明显；（2）应变片输出信号小，在强电磁场内易受干扰；（3）测量的是平均应变；（4）使用仪器复杂，易出故障，且排除技术难掌握。前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。一、应变片的构造和工作原理1.构造电阻丝覆盖层基底引线接线端子正视图侧视图前牙反颌和开颌的原因多由

4、于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片2.工作原理LRA取对数并求导，dRddLdARLAdA2rdr2dDdL22ArDLddVmV前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片22dV(LdL)(rdr)rL2VrL2drdLrLdLdL2LL(12)dR12m12k0R前牙反颌和

5、开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片k0—金属材料对应变的敏感系数•k0值与合金成分、加工工艺以及热处理等因素有关；•当金属材料变形进入塑性区时k0改变；•康铜（弹性和塑性区）k0=2前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片理论推导分析l大应变时dρ/ρ/ε，通常不是常数；l但对于康铜等少数几种电阻丝而言，dρ/ρ/ε基本为定值,因此它们可用于大应变（≥8000~1000

6、0με）的量测，可以满足一般工程中应变测试的要求。l半导体的dρ/ρ/ε通常>100实际情形l电阻丝端头横向变形l基底传递变形的影响l电阻应变片的实际灵敏度K≤K。实际工作中一般采用标定的方法确定S应变片的灵敏度。RLR/RKKKxRLx前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片例题：等强度梁静态应变测试采用等强度钢梁，钢梁的μ=0.285，L=150mm,室温、单向受力状态，应变片丝栅方向与最大主应变方向一致，采用砝码在梁一端施加作用力P=0.1KN，测

7、得挠度为1.5mm，实测量得电阻由120Ω变为120.12Ω，求得应变片的实际灵敏度K。梁高h=5mm⑴△R/R:–△R/R=（120.12-120）/120=0.001P⑵ε:梁长–σ=Eε=Mh/2I(1)L=150mm–f=-ML2/3EI(2)–(1)/(2):ε=-hf/L2=0.0005⑶K:–K=△R/R/ε=2前牙反颌和开颌的原因多由于不良喂养方式和吮指等不良习惯造成，也可因多颗乳磨牙过早缺失，迫使儿童用前牙咀嚼，下颌逐渐前伸移位造成。§3-2电阻应变片二、常见应变片1.金属丝式应变片短接式（a)：