由射频场感应所引起的传导干扰抗扰度试验的要点及其对策.pdf

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1、由射频场感应所引起的传导干扰抗扰度试验的要点及其对策钱振宇2009-8-7QIANZHENYU1由射频场感应所引起的传导干扰抗扰度试验的国家标准为GB/T17626.6（等同于国际标准IEC61000-4-6）。2009-8-7QIANZHENYU21由射频场感应引起的传导干扰的由来在通常情况下，被干扰设备的尺寸要比频率较低的干扰波（例如80MHz以下频率）的波长小很多，相形之下，设备引线（包括电源线及其架空线的延伸、通信线和接口电缆线等）的长度则可能达到干扰波的几个波长（或更长）。这样，设备引线就变成被动天线，接受射频场的感

2、应，变为传导干扰侵入设备内部，最终以射频电压和电流形成的近场电磁场影响设备的工作。射频场感应所引起的传导干扰与射频场辐射电磁干扰恰成一对，相互补充，形成150kHz～1000MHz全频段抗扰度试验。其中150kHz～80MHz为传导抗扰度试验；80MHz～1000MHz为辐射抗扰度试验。2009-8-7QIANZHENYU32试验要求和试验等级2.1试验的频率范围虽然标准规定的传导干扰抗扰度试验的频率范围是150kHz～80MHz，但实际试验频率范围可按情况分析后确定，主要是考虑设备（包括连接电缆在内）从干扰电磁场中拾取的射频

3、能量。当试品尺寸较小时，试验频率最大可扩展到230MHz。频率更高时，则受到试品尺寸、连接电缆及耦合/去耦网络性能的制约。具体规定由产品标准提供。标准以包括电缆和设备尺寸的总长L2作为起始频率波长的1/10。举例说，当L2＝30m，则起始频率的波长λ为300m，相应的起始频率f＝c/λ＝（300,000,000m/s）/300m＝1MHz至于试验的终止频率，标准认为与试品的尺寸L1有关，可以用λ/2来表示终止频率与L1的关系。例如，当L1＝1m时，则终止频率的波长λ为2m，相应的终止频率为f＝c/λ＝（300,000,000m

4、/s）/2m＝150MHz标准不管L1的尺寸有多大，试验的终止频率的下限一律定为80MHz。2009-8-7QIANZHENYU4此外，标准指出，对采用电池供电的小设备（尺寸小于0.4m），当它与地或其他设备无连接时，并且不在充电过程中使用，则不需要做射频传导抗扰度试验。但如果设备在电池充电期间也要使用的话，仍要做此试验。2009-8-7QIANZHENYU52.2试验要求为提高试验难度，试验中要用到1kHz的正弦波进行幅度调制，调制深度为80%。2009-8-7QIANZHENYU62.3试验等级试验等级分为1、2、3和X级

5、的共模试验，试验电压分别为1V、3V、10V和待定。试验等级的分类情况与GB/T17626.3标准相同，分别是：1级为低辐射环境，如离电台、电视台1km以上、附近只有小功率移动电话在使用。2级为中等辐射环境，如在不近于1m处使用小功率移动电话，为典型的商业环境。3级为较严酷的辐射环境，如在1m以内使用移动电话，或附近有大功率发射机或工、科、医射频设备在工作，为典型的工业环境。X级为待定级，可由制造商和用户协商；或在产品的技术条件中加以规定。2009-8-7QIANZHENYU73试验设备3.1试验仪器下面是完成由射频场感应所引

6、起传导干扰抗扰度试验所必须的试验发生器组成：①射频信号发生器（带宽150kHz～230MHz，有幅度调制功能，能手动或自动扫描，扫描点的留驻时间可以设定，输出信号的幅度可自动控制）。②射频功率放大器（取决于试验方法及试验的严酷度等级）。③低通和高通滤波器（用于避免信号谐波对试品产生干扰）。④固定衰减器（衰减量固定为6dB，输出阻抗为50Ω。采用固定衰减品的目的是要减少功放至耦合网络间的不匹配程度，在安装时要尽量靠近耦合网络）。2009-8-7QIANZHENYU8上述仪器如配上电子毫伏计、计算机及控制软件，可组成自动测试系统。

7、2009-8-7QIANZHENYU93.2干扰耦合设备主要介绍射频传导干扰的耦合电路，它可以将干扰信号很好地耦合到与受试设备相连的各种电缆上。它在规定频率范围内具有规定的共模阻抗：从受试设备端口看进去的共模阻抗在0.15～26MHz范围内为150Ω±20Ω；在26～80MHz范围内为150Ω（＋60Ω～－40Ω）。对于大多数电气和电子设备来说，通常对电源线都推荐使用耦合/去耦网络做射频传导干扰的抗干扰试验。但对于大功率的（如电流大于等于16A）和复杂的供电线路（多相或多种电压供电的线路）可考虑选用其他注入方法，如采用电流钳和

8、电磁耦合夹来做试验。本讲介绍采用耦合/去耦网络做电源线抗扰度试验的方法。2009-8-7QIANZHENYU10适合于电源线端口做射频传导抗干扰试验的耦合/去耦网络。2009-8-7QIANZHENYU11对耦合/去耦网络的基本要求是：①提供骚扰信号到被试设备电源输入端口间的