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时间:2020-03-10
《morlab实验室 GSM OTA指标射频测试.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、MORLAB天线及OTA测试标准及要求(AntennaandOverTheAirStandardsandRequirement)2009.05.08Presentedby:JiankunDeng概要天线与OTA测试方法介绍国际组织对OTA的要求中国进网对OTA的要求MORLABOTA实验室能力介绍专业、卓越、精准天线是什么如何发射及接收信号天线的种类有哪些page3MorlabGroup专业、卓越、精准基本知识介绍目前主要有2种方法对天线的辐射性能做判定:I从天线的辐射性能进行判定,我们定义为普通的天线测试,也是常说的无源(PAS
2、SIVE)测试。II在指定的微波暗室,对天线的辐射功率和接收灵敏度的测试,也即常说的有源(ACTIVE)测试。page4MorlabGroup专业、卓越、精准无源测试无源测试侧重从手机天线的增益、效率、方向图等天线的辐射参数方面考察手机的辐射性能。主要参数:ReturnLoss(反射损耗)Directivity(极性)Gain(增益)Efficiency(效率)RadiationPattern(方向图)EffectiveIsotropicRadiatedPower(增益+发射功率)page5MorlabGroup无源测试点源天线1.导线上的
3、场2.馈端的场3.天线上的场4.电抗近场5.辐射近场、费涅尔区域6.辐射远场、夫朗荷夫区域阵列天线1.导线上的场2.天线上的场3.电抗近场4.辐射近场、费涅尔区域5.辐射远场、夫朗荷夫区域6.辐射远场、夫朗荷夫区域D²/22D²/10AntennaRayleighFresnelFraunhoferzonezonezone电抗近场辐射近场辐射远场被测天线发射天线天线测量方法远场方法近场方法室外场室内场紧缩场平面扫描柱状扫描球面扫描专业、卓越、精准Gain(dBi):在相同的输入功率下,天线在空间某点的辐射功率与理想无方向性点源天线在同一点
4、的功率的比值,该增益单位为dBi,手机天线厂家提供的天线测试报告中的增益一般以dBi为单位。Gain(dBd):在相同的输入功率下,天线在空间某点的辐射功率与理想半波偶极子天线最大辐射方向上功率的比值,该增益的单位为dBd。Directivity:在相同的辐射功率下,某天线在空间某点产生的功率与理想无方向点源天线在同一点产生的功率的比值。page13MorlabGroup专业、卓越、精准Efficiency:天线辐射功率和天线输入功率的比值。APIP(AntennaPortInputPower):加入到天线口的功率大小,是PA输出到天线
5、口的功率大小。该功率大小主要跟手机的传导发射功率大小有关。EIRP(EffectiveIsotropicRadiatedPower):等效全向辐射功率是天线得到的功率与天线以dBi表示的增益的乘积,反映天线在各个方向上辐射的功率的大小。PEIRP(PeakEffectiveIsotropicRadiatedPower):峰值等效全向辐射功率。ERP(EffectiveRadiatedPower)的概念与EIRP相同,但ERP是天线得到的功率与以dBd表示的增益的乘积。page14MorlabGroup专业、卓越、精准无源测试根据各参数的定
6、义我们能得到各参数的关系:page15MorlabGroup专业、卓越、精准无源测试OmniLowSemiDirectionalDirectionalDirectionalDirectionalAntennaAntennaAntennaAntennapage16无源测试无源测试的不足在采用有源测试方法之前,业界通常采用被动天线测量方法(无源测试)进行天线的评估,以天线的方向图作为蓝牙设备的接收/发射性能的评估基准。例如,偶极子天线=偶极子天线方向图收发性能=射频线耦合测试+天线增益+=?Slide17无源测试一支端馈偶极子天线的方向图
7、Slide18无源测试把一支端馈偶极子天线装在一个金属盒子上后的方向图Slide19November2006无源测试•即便将馈线直接引入待测物,充分考虑了待测物及其元器件的影响后,仍然存在其他问题:•馈线的特征阻抗是50欧姆,与天线会产生失配•近场物体如手,头,桌子等等仍然会对方向图产生很大的影响•设备本身的本底噪声会影响设备的接受性能,但是却没有被考虑到•馈线本身测试结果也会产生影响Slide20专业、卓越、精准OTA测试方法介绍有源测试有源测试主要从天线整体的辐射功率和接收灵敏度,即TRP和TIS等,这种方法更能体现天线整体的辐射性能。
8、TRP和TIS是可溯源的量化方法,完全代表了物理层上的RF性能•整个测试考虑了天线的效能,设备本身的因素,以及在该设备近场范围内出现的物体对其的影响。
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