光传输系统运行与维护 教学课件 作者 贾璐 第5章 光传输系统设备调测（2M误码仪使用）.ppt

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1、基站传输维护仪表介绍2M误码仪OTDR光时域分析仪光功率计2M误码仪因2M误码仪的种类多、大小也不同，现在此只讲2M误码的简单使用以及设置等。一般来讲，手持式2M测试仪包括：1、接口部分；（电源接口，时钟接口）2、控制键部分，实现仪表的测试功能设置；3、测试窗口；4、状态指示灯等。2M仪表的测试设置注：这里的测试只真对于基站2M传输电路。2M误码图案:2^15-1伪随机码(PRBS15)。时钟：EXT（外部时钟)从线路中提取。速率：2048kbps线路编码：HDB3.阻抗：75欧非平衡帧型：PCM-30/PCM-30C/PCM-31/PCM-31C2M仪表

2、的测试连接误码仪；Rx接设备Tx，Tx接设备Rx。进行测试设置一般2M误码议有“Start/Stop”键，按一下，屏幕右上有显示“RUN”，再按一下Start/Stop停止测试，屏幕右上角显示“Stop”。注意：测试时一定要求按Start，开始进行测试。测试结果NOSignal灯亮，表示无2M信号进入仪表或信号过弱，可能Rx、Tx接反，或设备无输出，Rx线断。NOSync灯亮，表示2M业务不通，接收数据不能同步，可能仪表Tx线断或设备有问题。BitError亮表示设备有误码。AIS，设备发送AIS。2M解释2M又称为“E1”,指传输速率为2048Kbps。

3、可分为32个时隙，每个时隙为64K。其中TS0用于传输同步信息，TS16可用于传输信令信息，TS1-TS15、TS17-TS31用于传输数据或话音信息（也称承载负荷的信道）。OTDR光时域分析仪光时域反射仪测试原理光时域反射计：是通过被测光纤中产生的背向瑞利散射信号来工作的,测试的项目是光纤的长度，光纤衰耗，光纤故障点和光纤的接头损耗,是检测光纤性能和故障的必备仪器由于光纤自身的缺陷和掺杂成份的均匀性,使之它们在光子的作用下产生散射,如果光纤中(或接头时)有几何缺陷或断裂面,将产生菲涅尔反射,反射强弱与通过该点的光功率成正比,也反映了光纤各点的衰耗大小,因

4、散射是向四面八方发射的,反射光也将形成比较大的反射角,散射和反射光就是极少部份,它也能进入光纤的孔径角而反向传到输入端,假如光纤中断,即会从该点以后的背向散射光功率降到零。根据反向传输回来的散射光的情况来断定光纤的断点位置和光纤长度。这就是时域反射计的基本工作原理。光纤长度的测试由于测试长度的推导公式D=ct/2n（式中C为真空时的光速，C=3×10^8m/s,t为一个光脉冲从发射到经线路末端菲涅尔反射后OTDR接收到这个光脉冲的时间）n值越准所测结果越真实，所以测试时一定要以生产厂给定的n值设定光纤接续损耗的测试光时域计测接头损耗，一般采用五点平均法，即

5、把光标设置在光纤接点上，光标左边的两个点分别置于靠近测试端那根光缆的曲线平滑处，使两点所成的直线与曲线尽量重合，光标右边两点置于下一根光纤的曲线平滑位置，也让两点所成的直线与曲线尽量重合。这样通过光标两侧直线形成的“台阶”高低来表示光纤接续损耗的大小。OTDR测试中的几个重要参数1、平均次数：OTDR测试曲线是将每次输出脉冲后的反射信号采样，并把多次采样做平均处理以消除一些随机事件，平均化时间越长，噪声电平越接近最小值，动态范围就越大。平均化时间越长，测试精度越高，但达到一定程度时精度不再提高。为了提高测试速度，在一些不需要精确数据的定性测量中，可以适当减

6、少平均次数，缩短整体测试时间。OTDR测试中的几个重要参数2、量程和分辨率：量程值决定被测光纤的距离范围，量程设置应至少是被测光纤的两倍，以为分析软件提供一个曲线端点之后足够清洁的噪声区。为精确分析，可将光纤的长度加倍，在选择下一个可用的距离范围。分辨率值指定数据样本点的距离，分辨率越高，取样点的距离越近，对光纤的细节反映越清晰，但过高的分辨率将使单位时间内的平均次数降低，为达到理想的信噪比就需增加测量时间，降低测量速度。OTDR测试中的几个重要参数3、脉冲宽度：用于指定被输入被测光纤的光脉冲的宽度。在相同的脉冲幅度下，脉冲宽度越大，脉冲的能量也越大，从而

7、可以对较大的光纤量程进行测量，较大的脉冲宽度将加大测量的盲区。OTDR测试中的几个重要参数4、折射率：该数值被用于计算距离测量，折射率值影响所有距离测量，不同厂家、不同类型的光纤其光纤折射率是不同的，测量前要正确设置。利用OTDR进行测量时的注意事项要确保被测光纤到连接适配器的连接完好。被测系统中的连接器应在连接到通用连接器和适配器之前进行清洁，避免手与连接器的接触。光纤，特别是单模光纤，容易受到由微弯或其他应力造成的损耗的影响。为确保正确、可重复的测量，连接到OTDR的光纤导线必须置于将机械张力降到最小的位置。用OTDR测量光纤损耗，两端测出的衰减值是有

8、差别的，这是因为无法控制背向散射的模场分布，从而会导致测出的光纤衰