扫描电镜的使用演示

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时间:2019-10-31

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1、扫描电镜的使用演示一、实验目的1)了解扫描电镜基本结构和工作原理。2)通过对表面形貌衬度和原子序数衬度的观察,了解扫描电镜图像衬底原理及其应用。二、扫描电镜的基本结构和工作原理扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描,与样品相互作用产行各种物理信号,这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号,最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点,是进行样品表面研究的有效分析工具。扫描电镜所需的加速电压一般在1~30kV,常用的加速电

2、压~20kV左右。图像放大倍数在一定范围内(几十倍到几十万倍)可以实现连续调整,放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横向扫描的实际长度之比。扫描电镜最常使用的是二次电子信号和背散射电子信号,前者用于显示表面形貌衬度,后者用于显示原子序数衬度。扫描电镜的基本结构可分为电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大部分。三、扫描电镜图像衬度观察1.样品制备扫描电镜的优点之一是样品制备简单,对于新鲜的金属断口样品不需要做任何处理,可以直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要的

3、处理。1)样品表面附着有灰尘和油污,可用有机溶剂(乙醇或丙酮)在超声波清洗器中清洗。2)样品表面锈蚀或严重氧化,采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些表面形貌特征的细节,操作过程中应该注意。3)对于不导电的样品,观察前需在表面喷镀一层导电金属或碳,镀膜厚度控制在5-10nm为宜。2.表面形貌衬度观察二次电子信号来自于样品表面层5~l0nm,信号的强度对样品微区表面相对于入射束的取向非常敏感,随着样品表面相对于入射束的倾角增大,二次电子的产额增多。因此,二次电子像适合于显示表面形貌衬度。二次电子像的分辨率较高,一般约在3~6

4、nm。其分辨率的高低主要取决于束斑直径,而实际上真正达到的分辨率与样品本身的性质、制备方法,以及电镜的操作条件如高匝、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关,在最理想的状态下,目前可达的最佳分辩率为lnm。扫描电镜图像表面形貌衬度几乎可以用于显示任何样品表面的超微信息,其应用已渗透到许多科学研究领域,在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域,表面形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。3.原子序数衬度观察原子序数衬度是利用对样品表层微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信号,如背散射

5、电子、吸收电子等作为调制信号而形成的一种能反映微区化学成分差别的像衬度。实验证明,在实验条件相同的情况下,背散射电子信号的强度随原子序数增大而增大。在样品表层平均原子序数较大的区域,产生的背散射信号强度较高,背散射电子像中相应的区域显示较亮的衬度;而样品表层平均原子序数较小的区域则显示较暗的衬度。由此可见,背散射电子像中不同区域衬度的差别,实际上反映了样品相应不同区域平均原子序数的差异,据此可定性分析样品微区的化学成分分布。吸收电子像显示的原子序数衬度与背散射电子像相反,平均原子序数较大的区域图像衬度较暗,平均原子序数较小的区域显示较

6、亮的图像衬度。原子序数衬度适合于研究钢与合金的共晶组织,以及各种界面附近的元素扩散。由于背散射电子是被样品原子反射回来的入射电子,其能量较高,离开样品表面后沿直线轨迹运动,因此信号探测器只能检测到直接射向探头的背散射电子,有效收集立体角小,信号强度较低。尤其是样品中背向探测器的那些区域产生的背散射电子,因无法到达探测器而不能被接收。所以利用闪烁体计数器接收背散射电子信号时,只适合于表面平整的样品,实验前样品表面必须抛光而不需腐蚀。四、实验报告要求1)简述扫描电镜的基本结构及特点。2)举例说明扫描电镜表面形貌衬度和原子序数衬度的应用。实

7、验七DTA/TG使用演示与分析一、目的与要求1.了解差热-热重分析仪的构造。2.掌握差热和热重分析原理,了解定性分析处理的基本方法二、原理:1.差热分析:许多物质在加热或冷却过程中,会产生热效应,表现为该物质与外界环境之间产生温度差。差热分析(简称DTA)就是通过测定温度差来鉴别物质,确定其结构、组成或测定其转化温度、热效应等物理化学性质,广泛地应用于许多科研领域及生产部门。tabcdeTD△T图1理想的差热曲线谱图说明:图1中有两条曲线,曲线T为温度曲线,它表明参比物温度随时间的变化情况;曲线D为差热曲线,它反映样品与参比物间的温度

8、差△T同时间的关系。与时间轴t平行的线段ab、de表明△T=0或常数,称为基线;bc、cd段组成差热峰,一般规定放热峰为正峰,此时样品的焓变小于零,温度高于参比物;吸热峰出现在基线的另一侧,称为负峰或吸热峰。在实际测定中

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