基于电气自动化的控制设备可靠性测试探究

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时间:2019-11-26

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1、基于电气自动化的控制设备可靠性测试探究基于电气自动化的控制设备可靠性测试探究【摘耍】进入二十一世纪以来,我国电气设备自动化水平不断的提高以及加强,作为国家内部评估电子行业实际发展水平高低的关键标准一一电气设备的可靠性,已逐渐成为目前人们最为关心的问题。本文主要就可靠性测试过程中测试方法的类型、可靠性测试的实际情况和可靠性的提高方法进行简单的分析以及介绍。【关键词】控制设备;电气自动化;可靠性测试一、控制设备可靠性测试主要应用的集屮办法在控制设备进行可靠性的测试过程中,我们一般选择以下几种方法进行测试:(一)实验室可靠性测试办法(Laboratoryreliab

2、ilitytestmethod)o在实验室当中,将电气自动化操作环境和在该环境中对其可靠性进行的详细测试转化为模拟吋控制的操作环境,按其施工条件所进行的相关测试实验。实验环境务求真实、全面、完整,应按照正常施工过程中所遇到的环境应力一一模拟,同时对所需测试的设备进行反复检测,且将所花费的时间、失效数据等信息进行完整的登记。在做好统计工作的同时,还需要对可靠性实验过程中的每一项指标进行制定。可靠性试验的检测方法相对来说比在实际控制过程中更容易操作,花费的时间更短,所取得的数据质量也相对比较高。虽然通过实验室可靠性测试办法能够保证精确值以及可靠性,但是试验所需费用

3、较高,因试验环境所造成的局限性也比较大,所实验的产品不一定能得到较为广泛的推广及生产,成本限制所导致生产受限等诸多的问题。所以,通过实验室可靠性测试办法进行可靠性测试,更适用于一些难以大批量的生产产品。(―)保证可靠性测试办法(Ensurethereliabilitytestmethod),又被称之为烤机,是针对控制设备进行可靠性测试的一种保证试验。如按某种特定的条件或方法对出厂前的产品进行有效地故障检验,这些主要的研究对象均为电气设备结构主体中不同的元器件。其主要表现方法为通过检测,发现电气设备中存在的元器件事故,对其指数分布时候的服从情况进行详细的查看,同

4、时对其本身的失效率是否有随吋间变化而不断变化进行有效的分析记录。保证可靠性测试办法对电气设备木身的故障模式进行的试验具有极大的随机性,并且可进行随机的样式也十分的多变。一般情况下,某件产品在出厂以前,都会首先在试验室内进行保证可靠性测试,并且通过烤机对设备本身的吋效性进行类型测试,发现不足即吋改进,从而使产品达到国家的和关标准规定。保证可靠性测试办法在进行实验的过程中,耗时较长,随机性以及抽象性较高,所以,保证可靠性测试办法相对比较适用以及实用于一些电控数量相对较少的电器设备中。(三)现场可靠性测试办法(Fieldrel-iabilitytestmethod)

5、。针对电气设备的实际使用情况,按照相关数据进行现场的可靠性数据的整理、记录以及最后的统计,根据相关计算得出结论,从而实现对整个设备的可靠性进行分析。对于现场可靠性测试办法而言,其优势在于测试需要的设备较少,测试耗吋短。在真实的工作条件下,从而能将电气设备的性能更为直观的体现出来。在进行现场测试的过程中,如果出现连贯性问题,那么将导致整个测试受到极为严重的干扰。对于现场可靠性测试办法而言,其主要的缺点集中在受控条件约束性及外界因素造成的影响较大,影响可能性较多,使得很难满足实际T作要求。二、如何有效提高可靠性以及可靠性测试目前,电气自动化控制设备的可靠性测试中普

6、遍存在元器件质量比较低的问题。首先,由于市场上元器件生产厂家众多,产品质量参差不齐,由于市场因素下的恶性竞争导致生产厂家的恶性竞争,元器件等产品价格越低廉越容易得到企业的采购,质量问题往往被忽视,因此,降低了控制设备的正常使用寿命,造成电气自动化控制设备在可靠性测试中指标偏低。其次,受到测试及工作环境的影响,使用方式的不恰当和不经常进行维护等也容易造成控制设备可靠性测试指标过低。比如,在不同运载工具中,电气自动化设备容易受到机械条件的影响,即在使用过程中受到的振动、冲撞、离心加速等作用,使得电气自动化的控制设备元器件容易损坏或者失效。另外,在外部环境比如大气污

7、染、湿度及温度、气压等不利的条件下控制设备的可靠性测试指标会有所下降,电气自动化的控制设备会出现性能下降、温度差杲、运转不灵活等现象,严重的情况无法进行工作。再次,在实际测试的过程中,被测试的电气设备附近充满了各式各样的电磁波干扰。操作人员若忽视这种干扰,并继续进行原有的操作,可能会影响测试的准确度及精确性,还可能造成设备的疲劳及损害。基于以上对电气自动化控制设备可靠性测试的现状及存在的问题进行分析,我们可以从以下儿点來提高自动化控制设备的可靠性测试。第一,电气自动化控制设备的合理性设计。(1)设计人员要根据控制设备的具体特点,选用合适的元器件、散热装置、气候

8、防护等并进行合理分布,务求将元器件Z间

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