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时间:2017-08-02
《集成电路检测仪主控电路的设计【毕业论文】》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、本科毕业设计集成电路检测仪主控电路的设计37摘要随着集成电路的发展的日益广泛的应用,其相关检测技术也显得的愈发重要。在对集成电路的设计验证以及各种维护都需要对集成电路的性能进行测试,因此对这方面的研究是具有一定的实际意义的。本文设计的集成电路检测仪主控电路的设计采用单片机AT89C51为核心,控制整个检测仪进行工作,使检测仪实现检测功能。整个工作流程是当芯片放入导轨,芯片进入分粒器,分粒器进行分粒使一块芯片进入下阶段的检测,芯片到达检测区后,驱动检测夹板夹紧芯片,然后对芯片进行测试,测试出芯片是好的或坏的对应驱动气缸推动接收的管放入FAIL管或PA
2、SS管。论文的第一章主要阐述本人设计的背景和意义,本文需要解决的主要问题。第二章对系统设计的总方案做下介绍。第三章主要对硬件的系统构成做下介绍。第四章要对软件的系统构成做下介绍。以AT89C51单片机为核心设计的集成电路检测仪的主控电路,电路简单可靠,测试精确快速,并且具有体积小,重量轻,成本低等优点。关键字:集成电路;检测;AT89C51;传感器;LCD37AbstractWiththedevelopmentofintegratedcircuitsincreasinglywiderangeofapplications,thecorrelation
3、detectiontechnologyalsoappearsintheincreasinglyimportant.Inthedesignverificationofintegratedcircuitsandavarietyofmaintenancearerequiredtotesttheperformanceofintegratedcircuits,theBritishresearchinthisareaisthefemalehasacertainpracticalsignificance. Detectorintegratedcircuitdes
4、ignedinthispaperthedesignofmaincontrolcircuitsensorusingAT89C51asthecore,controlofthedetectortowork,sothatdetectortoachievedetection.Theentireworkflowiswhenthechipsintothetrack,thechipintothesub-grain,subgrainwerefractionateddevicetoachipintothenextphaseoftesting,thechipaftert
5、hearrivaldetectionzone,drivetestsplintclampchip,andthentestthechiptestthechipisgoodorbaddrivercorrespondingtubeinthecylindertopromotethereceivedPASSFAILpipeortube.朗读显示对应的拉丁字符的拼音字典 Inthefirstchapterdescribesthebackgroundandmeaningofmydesign,thepaperthemainissuestoberesolved.Ch
6、apterIIofthesystemdothenextdescribestheoverallprogram.Thethirdchapterofthehardwaretodothenextdescribesthesystemstructure.ChapterIVofthesoftwaretodothenextdescribesthesystemstructure.朗读显示对应的拉丁字符的拼音 字典TheAT89C51microcontrollerasthecoredesignofthemasterintegratedcircuitdetectorci
7、rcuit,thecircuitissimple,reliable,preciseandrapidtesting,andsmallsize,lightweightandlowcost.Keywords:integratedcircuit;testing;AT89C51;sensors;LCD朗读显示对应的拉丁字符的拼音字典37目录第1章绪论11.1课题的研究背景和意义11.2主要问题的提出与解决方案11.3检测仪的基本原理和构成11.4设计内容及要求2第2章检测仪的总体方案32.1集成电路检测仪主控电路的特点32.2总方案的构成32.3电路总体设计
8、思路分析32.4电路主要功能的要求32.5集成电路检测仪控制系统方案42.6工作流程4第3章硬件系统设计63.1单片机外围
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