基于MTK LCD TE现象相关问题总结

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时间:2019-08-22

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1、周技术总结每周问题总结---LCDTE1、切屏原因:BB写图像数据的速率和LCD刷屏的速率不一致引起(后者快于前者引起)。LCD的BW可以达到5MHz,但是外部SRAM却不行。刷屏率是指LCM刷新的速度,这个值一般在LCM的初始化Code中会设定好,对于ILI9486的这个LCD驱动设定寄存器0xB1来设定刷屏率(刷屏频率太低会导致出现横纹,一般都在60Hz以上,同样的太高的话也会导致出现横纹,故只有找到一个合适的值才能保证既不出现横条纹也要减少TE现象)。BB芯片Fig.1BB-LCMBB写速度和CS:这两个PIN对于每一个LCM都具备,两者工作的频率是一致的。BB

2、每写一帧数据会有一个片选信号,同时对应一个WR的写有效信号。BB写频率的变化是由工作状态决定的,比如摄像时,拍摄动态物体的写速度就快于拍摄静态物体的显示写速度。FMARK引脚:FMARK用来与BB同步,当F发出一个信号时,BB才发出一帧数据,这样可以保证两边同步。要使能FMARK就要保证BB与LCM的引脚连接正确,其次LCM的初始化要使能LCD的F功能,保证LCM周期性发信号给BB,同时使能BB的F引脚,保证BB每接到一个F信号才写一帧数据。LCM的FMARK有两个参数可以配置:一是刷多少次屏输出一次FMARK信号,不一定每刷一帧发出一个信号;二是FMARK的位置参数

3、,可以让FMARK迟滞几条线输出,目的是让BB晚点写数据到GRAM,避免TE。FMARK周期与CS周期:究其出现TE的根本原因,是两边速度不一致导致,是LCM的刷新速度要快于BB的速度。只要保证CS的周期在两个TE周期之间即可,也就是CS的写频率不能低于TE读频率的1/2,因为TE出现就是因为读写有交叉。通常是写GRAM的速度(WR)小于LCD刷屏速度,只要刷屏的位置不超过写GRAM的位置就不会有切屏现象。比如CS比两个TE周期小一点,要刷两帧数据,首先第一帧刷屏开始了,表示读GRAM开始,它的速度比较快,读的是老旧数据;接着BB开始写GRAM数据,由于写的速度比较慢

4、,大概写到GRAM一半时第一帧已经刷完。然后开始刷第二帧,这是从GRAM的上部开始读数据并刷屏,此时读入的数据是刚刚写入的数据,在写完GRAM之前,即读的步骤永远跟不上写的步骤,就不会出现TE。故而,CS的读写频率不低于TE的1/2,即不会出现TE。4/4周技术总结2、如何操作才能规避TE的分析过程:根据上面介绍的TE产生的原因,对于如何规避TE,普遍的做法有两步骤:在硬件支持并且软件使能FMARK的情况下(一般在Make文件并且查看BB的F-Pin的Mode是否为TE模式),一是修改LCD的读写时序,二是通过修改切线的位置和来消除TE现象。此二者必须协同工作才能保证

5、TE被规避掉,下面主要对此做出详细陈述:下图所示的代码即为LCD的读写时序配置:Fig.2LCD-sequeceFromSpec上面显示的配置时序为Spec中的时序,我们对比其寄存器设置如下作出解释Fig.3RegiterofLCD_PCNF0DefinarionFromSpec下图为LCDIC资料(此处假设取ILI9486的spec)中要求的时序配置:4/4周技术总结Fig.4LCDTimingSequenceFromICSpec结合上面三张图片,我们对这个重要的时序做出如下解释:C2WS:即对应代码中的CE2WR_SETUP_TIME,对应LCD_PCNF0寄存器

6、中的最高两位(30-31),这个值得代表了RS选通到WR有效和CS拉低到WR有效这两段时间中较大者(MTK平台中RS和CS是同步的,但是LCM中确不一定同步,具体请参看上图IC上面时序)。对应ICSpec中的tast,其基本要求为最小持续时间大于零。C2WH:即对应代码中的CE2WR_HOLD_TIME,对应LCD_PCNF0寄存器中的次高两位(28-29),指的是WR上拉后RS需要保持的有效时间和WR上拉后到DB需要保持的有效的时间,这两个中的较大者,对应IC中that和twrh中的较大者,其判别条件请参考上表有两种标准,即最小为0和最小为15。WST:对应代码中的

7、WRITE_WAIT_STATE,对应LCD_PCNF0寄存器中8-12位。指的是RS选通到WR拉过持续的时间。一般情况下,在实际操作的过程中如果出现TE,根据两份spec的时序进行相关配置,如4/4周技术总结果还有TE,则根据IC中相关的寄存器(ILI9468中为WriteTearScanLine(0x44)寄存器)对出现TE的位置进行调整,策略是尽可能的朝着LCD的边缘驱赶,这个过程要一步步的实践才能挑选出一个合适的值。3、结论及改善建议:暂无(请指点不足和需要改进之处)4/4

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