运算放大器自动测试系统的设计与应用

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1、运算放大器自动测试系统的设计与应用王鑫彭楚武黎福海余展然(湖南大学电气与信息工程学院长沙410082)摘要:自动测试系统满足现代科研生产中对测试高速度和高精度的要求，其发展方向是标准化、模块化和系列化。介绍了一种针对集成运算放大器的自动测试设备，系统采用辅助放大器测试方法，该方法具有测试精度高，易于建立条件，通用性好，可以完成自动测试等优点。系统可以自动完成量程的切换，无需人工操作，对IC制造厂家及生产线具有很大使用价值。应用结果表明该系统测试速度快，运行稳定可靠。关键词：自动测试系统；集成运算放大器；高精度；自动测试中图分类号：TP302.1，TN722.7+7文献标示码：BDesign

2、andApplicationofAutomaticTestSystemwithOperationalAmplifiersWangXinPengChuwuLiFuhaiYuZhanran(CollegeofElectricalandInformationEngineering，HunanUniversity，ChangSha410082，China)Abstract:Theautomatictestsystemsatisfiestherequirementsofhigh-speedandhigh-accuracyinthemodernscientificresearch,whosefutur

3、edirectionisinthestandardization,modularizationandserialization.Anautomatictestsystemwithintegratedoperationalamplifiersisproposed.Thesystemusestheauxiliaryamplifiertestmethodwhichhasagreatnumberofmerits,likethehighprecision,easytoestablishthecondition,thegoodgenerality,automaticallycompletingtest

4、processandsoon.Thesystemcanchangethemeasuringrangeautomaticallywithoutmanualoperation,whichisveryusefulfortheICmanufacturers.Itsapplicationresultsindicatethatthesystemrunssteadilyandreliablyinhightestspeed.Keywords:automatictestsystem；integratedoperationalamplifier；highdefinition；automatictest1序言A

5、TE(AutomaticTestEquipment，自动测试设备)指的是以计算机为核心，在程序控制下，[1]自动完成特定测试任务的仪器设备。以前技术人员和工程师在工作台上测试产品，周围则布满着杂乱的电缆和导线，不仅枯燥乏味，工作繁重，而且容易出现错误，而ATE的出现使电子检修工作引起巨大的革命，现在他们只需把产品连接到自动测试设备上，按一下测试按钮，就可轻松地等待结果。本文介绍的运算放大器测试系统可以按照用户编写的测试程序，自动完成测试工作，同时进行良品率的计算和图表分析，也可以连接探针台，对封装前的管芯进行测试。2集成电路自动测试设备的分类与基本组成ATE可分为数字测试系统、线性器件测试

6、系统、模拟测试系统、存储器测试系统、[2]板测试系统、混合信号测试系统、RF测试系统和SOC测试系统几种类型。ATE由与DUT（DeviceUnderTest）无关的通用系统和与DUT密切相关的标准测试组合（TestProgramSets，简称TPS）两部分组成。一台通用的模拟集成电路ATE的硬件基本组成包括计算机、系统接口板、继电器矩阵板、测量单元、电压电流源、交流信号源、时间频率测量单元、数字信号测量板，输出板等。其结构图如图1所示。图1测试系统硬件总体结构3各个单元的基本原理本系统是基于PCI总线，通过一个专用的PCI总线芯片S5920，由计算机向各个功能板发送命令，各个功能板都有一

7、块可编程的逻辑控制器（FPGA），在接到总线发来的控制命令后，根据各自的逻辑电路完成对总线上命令字的译码，以完成施加与测量等任务。3.1系统接口板如果说计算机是系统的大脑，那系统接口板就是整个系统的调度者，系统能否稳定快速的运行，接口板起到了非常重要的作用。系统接口板通过自己的逻辑控制把命令字进行译码，这样用户在编程时只要最终调用底层的两个最基本的函数VoidWriteData(intaddr,intdata)和intR