GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf

GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf

ID:380168

大小:326.69 KB

页数:10页

时间:2017-07-29

GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf_第1页
GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf_第2页
GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf_第3页
GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf_第4页
GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf_第5页
资源描述:

《GB4335-84 低碳钢冷轧薄板 铁素体晶粒度测定法.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、UDC669.15一194:620-186.8中华人民共和国国家标准CB4335一84低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法Coldrolledlow-carbonsteelsheet一Ferritetrainsize-Testmethods1984一04一09发布1985一03一01实施国家才示准局批准中华人民共和国国家标准UDC669。15一194:620.186.8低碳钢冷轧薄板GB4335-84铁素体晶粒度测定法Coldrolledto,一carbonsteelsheet一Ferritegrainsize-Testmethods本标准适用于在显微镜下测定含碳量小于。.2%的低碳

2、钢冷轧薄板的铁素体晶粒度。低碳低合蛋出刁薄板的铁素体晶粒度亦可参照本标准评定。1定义1.1晶粒度—晶粒的大小,用晶粒度级数表示。1.2晶粒度级数—依晶粒的平均尺寸,按表1规定划分级别。表1晶粒度级数每平方毫米断面上的晶拉的平均断面100倍时625毫米’(1英寸2)N晶粒数面积,毫米’断面上的平均晶粒数月一3110.0625一220.50.12一140.250.25080.1250.51160.062512320.031223640.0156441280.00781852560.003901665120.0019532710240.0009864820480.00049128940

3、960.0002442561081920.00012251211163840.000061102412327680.0000312048国家标准局1984一04一09发布1985一03一01实施GB4335一843晶粒延伸度一一当铁素体晶粒呈伸长形状时,可以按下式测定其伸长的程度。“=会·····································⋯⋯“)式中:e—晶粒延伸度。n—与晶粒的伸长方向相垂直的一定长度的切割线所切割的晶粒数,nZ—与晶粒的伸长方向相平行的同一长度的切割线所切割的晶粒数。2试样21取样部位在钢板宽度的1/2处取样。必要时可在距侧边约50毫米处

4、或按有关标准规定取样,但要在试验结果中注明。2.2试样尺寸试祥的磨面宽度为钢板的厚度,长度约20毫米。23取样方法试样一般用冲、剪、锯等冷加工方法切取。2.4磨面方向无特殊规定时,试样的磨面应与钢板的轧制方向平行。2.5试样制备试样经过粗磨、细磨、抛光、腐蚀等程序。取样时产生的冷加工硬化层要通过粗磨去除,粗磨时应避免试样过热。腐蚀液一般采用4%的硝酸酒精溶液。腐蚀时间约15一20秒。3测定方法晶粒度的测定方法有比较法和切割法二种。生产检验一般采用比较法。3.1比较法试样制好后,在10倍的显微镜下测定晶粒度。视场直径为0.80毫米。测定时,首先在显微镜下将试样作全面观察,然后选择其

5、晶粒度具有代表性的视场与本标准的低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度评级图相比较。3.1.1低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度评级图中的第一标准级别图是延伸度约等于1的图谱;第二标准级另」图是延伸度约等于2的图谱;第三标准级别图是延伸度约等于4的图谱。分别用1、n、皿表示。评定时,应记下图谱的图号和晶粒度级数。例如,当所观察试样的晶粒与第三标准级别图中的6级相当时,记16,表示延伸度约等于4、晶粒度6级。如果晶粒延伸度介于两个图号之间,可表示为工一n或1一皿。31.2如所观察到的晶粒度介于两个晶粒度级数的中间,可用半级表示。3.1.3如用10倍评定有困难,则可用50倍、20倍、30倍或40倍评定,

6、然后用表2换算成标准级别。表2放大倍数晶粒度级数100+一10l23456789101l1250l234567820012345678300l2345678}40012345678GB4338-843.1.4若试样中发现有晶粒不均匀现象,经全面观察后,如属个别现象,而占优势的晶粒度所占视场面积不少于90vo,则可记下占优势的晶拉度的级数作为评定结果;如果不均匀现象较为普遍,则按各级数晶拉在视场中所占面积的大小,用级数顺序表示。3.2切割法试样制好后,用显微镜观察或用显微镜照相,测量互相垂直的两组一定长度的切割线所切割的铁素体晶粒数,从而计算出晶粒度级数。3.2.1在切割线两端的两

7、个晶粒,如果都被部分地切割,则只计人一个,如果只有一个被部分地切割,则不予计入。3.2.2一个方向的切割线所切割的晶粒总数不应少于50个,必要时可测量几个视场。3.2.3用切割法测量时,按下式计算。N二一Ign十(2)0.301式中:N—晶粒度级数(保留一位小数),。—在显微镜放大倍数为100fw,每625毫米2(1英寸2)断面上的晶粒数。3.2.4公式(2)中的晶粒数:由下式计算。_..,/M、,/I.X八、__n=SUUI-1‘X‘—⋯‘⋯‘二‘.“.⋯,.⋯‘.‘“.l31

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。