ut初试开卷工艺

ut初试开卷工艺

ID:37899977

大小:52.50 KB

页数:4页

时间:2019-06-02

ut初试开卷工艺_第1页
ut初试开卷工艺_第2页
ut初试开卷工艺_第3页
ut初试开卷工艺_第4页
资源描述:

《ut初试开卷工艺》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库

1、四.综合题某一直径为3800mm的在制圆筒形压力容器,材质为16MnR,设计压力为66.5Mpa,工件由厚度65mm和80mm的两个筒节组成(如图),环缝为内壁对齐结构.对该工件的对接焊缝进行超声波探伤,请回答下列问题:(3)(1)(4)(2)检测工艺条件选择1.检测面:(A)A.(1)和(2)B.(3)和(4)C.(1)和(3)D.A和B2.仪器性能要求:(AC)A.水平线性误差≤1%B.水平线性误差≤1%C.垂直线性误差≤5%D.垂直线性误差≤8%3.探伤仪与探头系统性能:(AD)A.有效灵敏度余量≥10d

2、BB.直探头6mm分辨率≥30dBC.动态范围≥30dBD.斜探头3mm分辨率≥6dB4.探头选择:(AC)A.2.5P10×12K1B.5P10×12K2C.2.5P13×13K1.5D.2.5P8×10K25.试块:(ABC)A.CSK-ⅠAB.CSK-ⅡAC.CSK-ⅢAD.CSK-ⅣA6.距离波幅曲线:(AD)A.φ2×40-14dBφ2×40-8dBφ2×40+2dBB.φ1×6-9dBφ1×6-3dBφ1×6+5dBC.φ2×40-18dBφ2×40-8dBφ2×40-12dBD.φ1×6-6dBφ

3、1×6dBφ1×6+10dB7.扫查灵敏度:(DA)A.评定线灵敏度B.判废线灵敏度C.定量线灵敏度D.评定线提高6dB8.扫查方式:(CD)A.平行扫查B.交叉扫查C.锯齿扫查D.前后、左右、转角、环绕9.横向缺陷检测(B)A.提高3dB作斜平行扫查B.提高6dB作斜平行扫查C.提高9dB作斜平行扫查D.提高12dB作斜平行扫查10.缺陷定量检测灵敏度调至(B)A.EL线B.SL线C.RL线D.EL线-6dB1.按JB4730(送审稿)的要求,填写下表,选择该筒节对接焊缝超声波探伤的部分工艺参数2.根据有关标

4、准和法规,请确定该工件的检验比例和合格级别.答:检验比例:100%,合格级别:Ⅰ级合格43.探头移动区是多少?检测区域如何确定?答:探头移动区≥1.25P=1.25*2*T*K检测区的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域,这个区域最小为5mm,最大为10mm.4.如何进行横向缺陷的检测?答:应进行斜平行扫查,并把各线的灵敏度均调高6dB.5.不允许存在的缺陷有哪些?答:1.反射波幅位于Ⅲ区的缺陷;2.检测人员判定为裂纹等危害性的缺陷.3.质量等级为I级以下的焊缝.6.传输损失在何种情况

5、下要进行补偿?答:当工件的表面耦合损失和材质衰减与试块不同时,在一跨距声程内最大传输损失差≤2Db时应按规定进行传输损失补偿.42·一在制加氢反应器的锻造筒节,如图所示,规格:φ2800×160,长1800mm,材质为2.25Cr1Mo,使用超声纵波和横波实施检测,执行JB4730(送审稿)的有关规定,请选择工艺条件.(15分)ADCB①.部分工艺条件选择:请把选中的工艺条件代号填入括号中.工艺条件选择1.纵波检测面的选择(b)a.Ab.Bc.Cd.D2.横波检测面的选择(b)a.Ab.Bc.A+C+Dd.A+

6、B+C+D3.纵波直探头试块上人工缺陷的选择(a)a.平底孔b.短横孔c.阶梯试块d.V型槽4.横波斜探头试块上人工缺陷的选择(d)a.平底孔b.短横孔c.阶梯试块d.V型槽5.纵波直探头的选择(a)a.2.5P20Zb.双晶直探头6.横波斜探头的选择(a)a.K1b.K2c.K347.纵波检测灵敏度的调节方法(a)a.试块法b.大平底c.试块法+大平底8.纵波检测灵敏度(a)a.φ2平底孔b.φ3平底孔c.φ4平底孔d.φ6平底孔②横波检测的灵敏度校验和距离-波幅曲线如何制作?答:P116从锻件外圆面将探头对

7、准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满刻度的80%,将该值标在面板上,以其为基准检测灵敏度;再移动探头测定外圆面的标准沟槽,并将最大的反射高度也标在面板上,将上述两点用直线连接并延长,使之包括全部检测范围,绘出距离-波幅曲线。③检测发现哪些缺陷需要记录?答:P77a)记录当量直径超过φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。b)密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。记录≥Ф3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50X50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由6dB法确定。c)记录由缺陷引起

8、的底波降低量(BG/BF)大于8dB的缺陷波幅和位置。④你所选择的处在不同探测面上的每个探头主要检查哪些缺陷?答:直探头外圆探测的目的是发现与轴线平行的周向缺陷,斜探头轴向探测为了发现与轴线垂直的径向缺陷。4

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。