PCI侦测诊断卡代码大全

PCI侦测诊断卡代码大全

ID:37855835

大小:23.48 KB

页数:6页

时间:2019-06-01

PCI侦测诊断卡代码大全_第1页
PCI侦测诊断卡代码大全_第2页
PCI侦测诊断卡代码大全_第3页
PCI侦测诊断卡代码大全_第4页
PCI侦测诊断卡代码大全_第5页
资源描述:

《PCI侦测诊断卡代码大全》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库

1、代码说明00 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测

2、试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。08 使CMOS计

3、时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64KRAM测试正在进行。0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发

4、出NOP命令。第一个64KRAN的地址线故障。0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64KRAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备10 测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K

5、RAM第0位故障。11 测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DKRAM第1位故障。12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DKRAM第2位故障。13 测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DKRAM第3位故障。14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DKRAM第4位故障。15

6、 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第5位故障。16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第6位故障。17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第7位故障。18 测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。第一个64DKRAM第8位故障。1

7、9 测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。第一个64DKRAM第9位故障。1A 测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。第一个64DKRAM第10位故障。1B 测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DKRAM第11位故障。1C 测试CMOS检查总和。第一个64DKRAM第12位故障。1D 调定CMOS配置。第一个64DKRAM第13位故障。1E 测定系统存储器的大小,并且把它和

8、CMOS值比较。第一个64DKRAM第14位故障。1F 测试64K存储器至最高640K。第一个64DKRAM第15位故障。20 测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。从属DM

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。