单片机低压监控装置的抗干扰研究

《单片机低压监控装置的抗干扰研究》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、学兔兔www.xuetutu.com总第47卷第535期电测与仪表VO1．47No．5352010年第O7期EiectricaIMeasurement&InstrumentationJu1．2010单片机低压监控装置的抗干扰研究程荣贵，杨森斌，刘锐鹏(西安通信学院基础部，西安710106)摘要：为提高以单片机为核心设计的低压监控装置的可靠性，本文对装置的抗干扰技术进行了研究。借助理论分析和干扰实验，分析了低压监控环境下的干扰因素，将主要干扰确定为接触器控制线圈导通或分断时产生的过电压。据此，在抑制干扰源、切断干扰传播路径和提

2、高敏感器件抗干扰能力等方面提出了详尽的硬件抗干扰措施，其有效性已通过计算机仿真和工程实践得到验证。关键词：低压配电监控；单片机；抗干扰；过电压中图分类号：TM726；TP368文献标识码：B文章编号：1001—1390(2010)07—0065—04ResearchonAnti-—interferenceofLow-voltageMonitoringDeviceBasedonSingleChipMicrocomputerCHENGRong—gui，YANGSen-bin，LIURui-peng(XianCommunicati

3、onsInstitute，Xian710106，China)Abstract：Inordertoimprovethereliabilityoflow—voltagemonitoringdevicebasedonsinglechipmicrocomputer，thetechnologiesofanti-interferenceareresearched．Theoreticalanalysisandinterferenceexperimentaremadetoanalyzetheinterferencesources，andit

4、’Sconfirmedthatthemaininterferenceistheovervohagecausedbyjunctionordisjunctionofcontactorwinding．Accordingtothisconclusion，hardwaremethodsofanti-interferenceonrestraininginterferencesources，cuttingoffpropagationpathandenhancinganti—interferenceperformanceofsensitiv

5、eelementsareproposed．Thesemethodshavebeenvalidatedbysimulationandengineeringpractice．Keywords：low-voltagepowerdistributionmonitoring，singlechipmicrocomputer，anti-interference，overvohage0引言在低压监控装置的工作环境中，不可避免地存在随着电子、网络和计算机技术的发展，低压配电一些自然因素或人为因素产生的电磁能量，这些能量监控系统在电网运行状态智

6、能化监测和控制中的应通过一定途径进入单片机控制模块后就成为干扰。为用越来越普及。低压监控装置作为现场设备层的核心分析方便，可根据干扰源和干扰传播路径的不同，将部件，主要负责参数测量、状态检测、开关控制等，是对低压监控装置的干扰分为两大类：一是系统内部的系统正常运行的基础【”。该类装置一般由单片机控制相互干扰，二是系统外部的干扰。其中，系统内部的相模块、电源模块、数据采集与处理模块、显示模块和通互干扰主要由接触器、继电器、开关等装置内部的器信模块等部分组成，如图1所示。件引起，可通过过程通道干扰(如输入、输出端口)、供模块化的

7、设计使得装置具有结构简单、成本低电系统干扰(如电源线)和空间干扰的方式进入单片廉、便于维护和升级等优点。然而，由于现场使用环境机控制模块。例如，接触器的动作会产生两种干扰信较恶劣，各种干扰因素较多，单片机控制模块的可靠号：一是接触器开关KM触点开、合会在母线上引起性经常会受到不同程度的影响，出现误复位、显示数含有多种频率分量的衰减震荡波，母线相当于天据出错，甚至“死机”等现象。文中结合理论分析和仿线，将暂态电磁场的能量向周围空间辐射，进入单片真实验，分析了单片机控制模块的干扰因素，提出了机控制模块后形成干扰。这种干扰与开关所

8、带负载的抗干扰的硬件措施。类型和功率大小有关，通常，感性负载、大功率变压器1低压监控环境下的干扰因素分析引起的干扰强度更大；二是接触器控制线圈L通、断一65—学兔兔www.xuetutu.com总第47卷第535期电测与仪表Vo1．47No．5352010年第07期ElectricalMe