《活度计量校准技术》PPT课件

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1、活度计量校准技术介绍国防科技工业电离辐射一级计量站1内容一、计量和校准介绍两个概念计量标准校准方法二、测量方法绝对测量方法相对测量方法三、校准方法标准物质仪器校准样品校准2介绍两个概念检定——由法定计量技术机构确定并证实测量器具是否完全满足规定要求而做的全部工作。（1）检定结果应对测量器具做出合格与否的结论。（2）检定包括将测量器具的示值与对应的测量标准所复现的量值进行比较的一组操作，当两者的差值小于相关的检定规程所规定的最大允许误差即为合格。校准——在规定的条件下，为确定测量仪器、测量系统所指示的量值或实物量具、标准物质所代表的量值与相关的测

2、量标准所复现的量值之间的关系的一组操作。（1）校准结果可以给示值赋值，也可确定示值的修正值。（2）校准还可以确定其他计量特性，如影响量的作用。（3）校准结果可以记录在校准证书等文件中。（4）有时用修正值或校准因子、校准曲线来表征校准结果。计量标准开展计量校准，先要建立计量标准，包括：标准装置测量标准方法标准样品4校准方法依据的校准规范标准物质测量仪器校准结果5绝对测量方法4π（）符合测量方法简单衰变核素的活度测量复杂衰变核素的活度测量数字符合测量方法气体绝对测量方法2π、2π表面发射率标准装置井型NaI(Tl)和峰测量125I活度

3、测量125I活度4πγ（NaI)测量多γ射线核素量热计活度测量方法TDCR等液体闪烁计数方法2021/8/7674π符合测量方法-符合法是由P.J.Campion等人于五、六十年代发展起来的一种绝对测量方法，这种方法最初主要用于测量如60Co等简单-衰变核素的活度测量，后来又由Campion、Cox等人发展了效率外推法和效率示踪技术，可分别用于复杂-衰变和纯衰变核素的活度测量。8原理简介符合事件：两个或两个以上同时发生的事件对于放射性核素：例如β-γ的级联符合法就是利用符合电路来甄选符合事件的方法任何符合电路均有符合分辨时间

4、τR,实际上符合事件就是相继发生的时间间隔小于符合分辨时间的事件，或者称同时性事件真符合和偶然符合具有内在关联，为真符合不具有内在关联，或者两个独立事件，则为偶然符合反符合利用反符合电路来消除符合事件的脉冲应用，例如反符合绝对测量方法、反康谱仪等，用来消除或减少辐射本底的影响延迟符合将一个事件延迟一定时间，与第二个事件符合例如，飞行时间技术偶然符合nrc与符合分辨时间τ的关系通过测量没有符合关系的和信号之间的偶然符合计数是测量符合分辨时间的方法之一第一道平均计数率为n1第二道平均计数率为n2分辨时间为τnrc=2τn1n2τ=nrc/(2n

5、1n2)4π符合测量装置技术框图4π（pc)(NaI(Tl))符合测量标准装置计数器14探测器：π（pc)正比计数器坪长应大于300V，坪斜小于0.5%/100V（对60Co）；装置的死时间和符合分辨时间的测量结果的不确定度应小于0.1s4π（ppc)正比计数器4π（LS)计数器γ探测器：NaI（Tl）：道的能量分辨率应优于12%（137Cs）HPGe1516符合电路分辨时间测量17延迟符合（分辨曲线）法18测量方法可选核参数法适用于简单衰变核素活度测量效率外推法适用于简单或复杂衰变核素活度测量效率示踪方法适用于纯核素和

6、137Cs等亚稳态核素，示踪核60Co、134Cs核参数法对于简单衰变核素，设N0为待测样品在单位时间内的衰变数即活度，N为道的计数率，N为道的计数率，Nc为符合道的计数率，、分别表示道和道的探测效率，则有：(1)(2)(3)由式(1)、(2)、(3)可得：(4)主要修正因素：1、本底n=n’-nb2、死时间死时间修正公式死时间（又称为测量分辨时间）可以采用双源法和双脉冲产生器测量3、偶然符合修正R是符合分辨时间，Nc’是经过本底修正的符合计数率N和Nγ是表观计数率234、射线的内转换电子5、探测器对射线的灵敏

7、度等因素的修正实验测定，综合以上各项修正以后，式（5）可表达为24注意：需要测量的参数有：本底、γ、ce、、r;可查手册的参数：测量γ、ce也是很麻烦的，查有需要准确的手册，有没有不用知道这些参数的测量方法呢？答案是肯定的。效率外推方法可以很好地给出测量结果。25效率外推法如果引入参数Ck，令Ck=(1-k)/(1-)，为选定的其中一个分支的效率。则由(7)、(8)、(9)式可得：（10）其中，改变效率的主要方法造成道计数损失的原因：包括源的自吸收、源的衬托膜吸收、探测器的几何条件即电场边缘效应引起的计数损

8、失、探测器及电子学线路的死时间引起的计数损失、电子学系统的甄别阈引起的计数损失和源的导电膜导电不良引起的计数损失等六方面因素。在实际的物理测量中，可能