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时间:2018-11-24
《电池片生产工艺设计流程》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、WORD格式..可编辑电池片生产工艺流程一、制绒a.目的在硅片的表面形成坑凹状表面,减少电池片的反射的太阳光,增加二次反射的面积。一般情况下,用碱处理是为了得到金字塔状绒面;用酸处理是为了得到虫孔状绒面。不管是哪种绒面,都可以提高硅片的陷光作用。b.流程1.常规条件下,硅与单纯的HF、HNO3(硅表面会被钝化,二氧化硅与HNO3不反应)认为是不反应的。但在两种混合酸的体系中,硅则可以与溶液进行持续的反应。硅的氧化硝酸/亚硝酸(HNO2)将硅氧化成二氧化硅(主要是亚硝酸将硅氧化)Si+4HNO3=SiO2+4NO2+2H2O(慢反应)3Si+4HNO3=3Si
2、O2+4NO+2H2O(慢反应)二氧化氮、一氧化氮与水反应,生成亚硝酸,亚硝酸很快地将硅氧化成二氧化硅。2NO2+H2O=HNO2+HNO3(快反应)Si+4HNO2=SiO2+4NO+2H2O(快反应)(第一步的主反应)4HNO3+NO+H2O=6HNO2(快反应)只要有少量的二氧化氮生成,就会和水反应变成亚硝酸,只要少量的一氧化氮生成,就会和硝酸、水反应很快地生成亚硝酸,亚硝酸会很快的将硅氧化,生成一氧化氮,一氧化氮又与硝酸、水反应,这样一系列化学反应最终的结果是造成硅的表面被快速氧化,硝酸被还原成氮氧化物。二氧化硅的溶解SiO2+4HF=SiF4+2H
3、2O(四氟化硅是气体)SiF4+2HF=H2SiF6总反应SiO2+6HF=H2SiF6+2H2O最终反应掉的硅以氟硅酸的形式进入溶液。专业知识整理分享WORD格式..可编辑2.清水冲洗3.硅片经过碱液腐蚀(氢氧化钠/氢氧化钾),腐蚀掉硅片经酸液腐蚀后的多孔硅4.硅片经HF、HCl冲洗,中和碱液,如不清洗硅片表面残留的碱液,在烘干后硅片的表面会有结晶5.水冲洗表面,洗掉酸液c.注意制绒后的面相对于未制绒的面来说比较暗淡d.现场图奥特斯维电池厂采用RENA的设备。二、扩散a.目的提供P-N结,POCl3是目前磷扩散用得较多的一种杂质源。POCl3液态源扩散方法
4、具有生产效率较高,得到PN结均匀、平整和扩散层表面良好等优点。b.原理POCl3在高温下(>600℃)分解生成五氯化磷(PCl5)和五氧化二磷(P2O5),其反应式如下:但在有外来O2存在的情况下,PCl5会进一步分解成P2O5并放出氯气(Cl2)专业知识整理分享WORD格式..可编辑其反应式如下:在有氧气的存在时,POCl3热分解的反应式为:生成的P2O5在扩散温度下与硅反应,生成二氧化硅(SiO2)和磷原子,其反应式如下:c.结论由此可见,在磷扩散时,为了促使POCl3充分的分解和避免PCl5对硅片表面的腐蚀作用,必须在通氮气的同时通入一定流量的氧气。P
5、OCl3分解产生的P2O5淀积在硅片表面,P2O5与硅反应生成SiO2和磷原子,并在硅片表面形成一层磷-硅玻璃,然后磷原子再向硅中进行扩散。d.现场图SEVEVSTAR扩散设备。三、刻蚀去边a.目的由于在扩散过程中,即使采用背靠背的单面扩散方式,硅片的所有表面(专业知识整理分享WORD格式..可编辑包括边缘)都将不可避免地扩散上磷。P-N结的正面所收集到的光生电子会沿着边缘扩散有磷的区域流到P-N结的背面而造成短路。此短路通道等效于降低并联电阻。经过刻蚀工序,硅片边缘带有的磷将会被去除干净,避免P-N结短路造成并联电阻降低。b.原理湿法刻蚀原理大致的腐蚀机制
6、是HNO3氧化生成SiO2,HF再去除SiO2。化学反应方程式如下:3Si+4HNO3=3SiO2+4NO+2H2OSiO2+4HF=SiF4+2H2OSiF4+2HF=H2SiF6中间部分有碱槽,碱槽的作用是为了抛光未制绒面,使其变得更加光滑;碱槽的主要溶液为KOH;H2SO4溶液的目的是为了使硅片在流水线上漂浮流动起来,不参与反应。d.现场图湿法刻蚀现场图专业知识整理分享WORD格式..可编辑干法刻蚀现场图:干法刻蚀是用等离子体进行薄膜刻蚀的技术。当气体以等离子体形式存在时,它具备两个特点:一方面等离子体中的这些气体化学活性比常态下时要强很多,根据被刻蚀
7、材料的不同,选择合适的气体,就可以更快地与材料进行反应,实现刻蚀去除的目的;另一方面,还可以利用电场对等离子体进行引导和加速,使其具备一定能量,当其轰击被刻蚀物的表面时,会将被刻蚀物材料的原子击出,从而达到利用物理上的能量转移来实现刻蚀的目的。专业知识整理分享WORD格式..可编辑四、镀膜a.目的光在硅表面的反射损失率高达35%左右。一方面,减反射膜提高了对太阳光的利用率,有助于提高光生电流密度,起到提高电流进而提高转换效率的作用。另一方面,薄膜中的氢对电池的表面钝化降低了发射结的表面复合速率,减小了暗电流,提升了开路电压,从而提高了光电转换效率;在烧穿工艺
8、中的高温瞬时退火断裂了一些Si-H、N-H键,游离出
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