数字逻辑实验讲稿11

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1、数字逻辑实验讲稿2011级数字逻辑实验17实验一（1）实验基础知识一、实验内容分配实验箱和座位；介绍本次实验教师。1、实验基本过程（1）课外：完成预习报告（2）课内：检查预习报告是否完成，重点检查预习的内容和格式。（3）课内：实验目的及内容介绍。（4）课内：实验芯片功能说明。（5）课内：实验步骤。（6）课内：进行实验。实验过程要求按照实验步骤，操作规范。原则上要求独立完成。实验步骤一般包括：器件检测（实验箱开关、电源、地、LED、插座等、实验芯片、连接线、逻辑笔）、芯片布局、线路连接、获取数据、实

2、验结束后整理。（7）课内：下次实验预习内容和预习报告格式。（8）课外：完成本次实验报告以及下次预习报告。（9）课外：每周提交一次实验材料，周二提交，提交上一周2次实验的预习报告和实验报告。2、实验成绩评定（1）成绩采用五级计分制：优秀（95）、良好（85）、中等（75）、及格（65）、不及格（50）。若缺席或缺交材料作0分统计。（2）成绩构成：预习报告25%、实验过程40%、实验报告35%。期末总成绩由每一次实验成绩平均。（3）预习报告要求：格式规范、书面整洁。内容要求：列出元器件清单；绘出设计好

3、的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明；拟定实验方法和步骤；拟好记录实验数据的表格，并记录预习的理论值；17（4）实验报告要求：格式规范、数据详实、实验总结能体现实验情况（包括出现故障和排除故障）、书面整洁。实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和图，其中表格、曲线和图应充分利用专用实验报告纸，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画出。（5）实验操作规范：芯片反接、电源和地线短

4、路、带电进行芯片和连线的插拔、擅自调换试验箱、擅自交换座位、未经实验师同意擅自领取器件、实验结束未进行整理等。违反操作规范者，降低本次实验过程等级分。（6）实验过程要求：在规定时间内完成实验的同学举手示意，让教师进行检查。在规定时间内未完成实验的同学，在时间截止时应停止实验。实验过程若因实验设备问题举手示意，由教师帮忙解决。如为连接线问题、接线错误、芯片错误、芯片反插等问题降低实验过程等级分。3、认识实验箱和芯片（1）实验箱变压器、插座、实验箱的开关、电源和地、开关模块、LED模块、芯片插座、脉冲

5、、连接线。（2）芯片扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……如下图。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc—般排列在左上端，接地端GND一般排在右下端，如74LS00为14脚芯片，14脚为Vcc，7脚为GND。若集成电路芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。扁平型多用于数字集成电路，双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。4、布线原则17布线

6、原则：应便于检查、排除故障和更换器件。在数字电路实验中，有错误布线引起的故障，常占很大比例。布线错误不仅会引起电路故障，严重时甚至会损坏器件，因此，注意布线的合理性和科学性是十分必要的，正确的布线原则大致有以下几点：（1）接插集成电路芯片时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将芯片插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。拔芯片时，应用芯片夹，不能用手直接拔起。（2）不允许将集成电路芯片方向插反，一般IC的方向是缺口（或标记

7、）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。（3）布线时，最好采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地线用黑色。（4）布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是首先接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。（5）连线应避免过长，避免从集成器件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。（6）当实验电路的规模较大时，应注意集成元器件的合

8、理布局，以便得到最佳布线，布线时，顺便对单个集成器件进行功能测试。这是一种良好的习惯，实际上这样做不会增加布线工作量。（7）应当指出，布线和调试工作是不能截然分开的，往往需要交替进行，对大型实验元器件很多的，可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分，逐个布线、调试（分调），然后将各部分连接起来（联调）。5、故障调试观察法用逻辑笔直接测量各级输入信号、时钟脉冲等是否加到实验电路上，观察输出端有无反应。重复测试观察故障现象，然后对某一故障状态，用逻辑笔测试各输入/输出端的直流电平，从