材料科学导论复习new

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1、《材料科学导论》考试复习1材料按结构分类可分为：晶体、准晶体、非晶体、胶体2材料按化学组成可分为：金属材料、无机非金属材料、有机高分子材料、复合材料。3晶体的基本性质有：①对称性，②均一性，③各向异性，④自限性，⑤最小内能性、⑥稳定性。4化学键与结构类型可分为：①金属键，②离子键，③原子键，④共价键，⑤氢键及其晶格，⑥过渡型键及晶格，⑦单键与多键型的晶格。5按对称规律晶体可分为：①3个晶族，②7个晶系，③32对称型（点群）。晶系分别是：①单斜，②三斜，③斜方，④三方，⑤四方，⑥六方，⑦等轴晶系。6晶体具有格子构造，格子有4种类型它们是：原始格子(P)、底心格子(C、A、B)、面心格子(F

2、)、体心格子(I)7格子的选择要求①平行六面体应包括空间格子的全部对称②平行六面体中相等棱和角的数目尽可能多③平行六面体中棱之间存在直角时，直角数要力求最多④在上要求条件下，平行六面体的体积最小。8晶体空间对称中共有230个空间群，空间群包括：格子类型+空间对称的国际符号。9化学键与结构类型包括：①离子键及离子晶格。②共价键及原子晶格。③金属键及金属晶格。④分子键及分子晶格。⑤氢键及其晶格。⑥过渡型键及晶格。⑦单键与多键型的晶格。10人眼的分辩率是（0.1mm），光学显微镜的分辩率是（200nm），扫描电子显微镜的分辩率是（2nm），透射电子显微镜的分辩率是（0.1-0.05nm）。11

3、X射线分析方法有①粉晶X射线照相法(晶体物相分析)②粉晶X射线衍射分析(晶体物相分析)③单晶X射线照相法(晶体结构分析)④四圆单晶X射线衍射分析(晶体结构分析)12在晶体对称规律中：低级晶族，无高次轴；中级晶族，只有一个高次轴；高级晶族，有多个高次轴13晶体常数对应关系为：三斜晶系a≠b≠c,α≠β≠γ≠90○单斜晶系a≠b≠c,α＝γ＝90○β＞90○斜方晶系a≠b≠c,α＝β＝γ＝90○四方晶系a＝b≠c,α＝β＝γ＝90○三方晶系a＝b≠c,α＝β＝90○γ＝120○六方晶系a＝b≠c,α＝β＝90○γ＝120○等轴晶系a＝b＝c,α＝β＝γ＝90○14电子显微镜与光学显微镜对比①

4、照射束★电子显微镜电子束6☆光学显微镜光束②媒质★电子显微镜真空☆光学显微镜大气③透镜★电子显微镜电子透镜（电磁透镜）☆光学显微镜光学玻璃透镜④分辨率★电子显微镜透射电镜为0.14nm，扫描电镜为6nm☆光学显微镜可见光区为200nm，紫外光区为100nm⑤放大倍数★电子显微镜☆光学显微镜10-2000倍，更换透镜调节⑥景深★电子显微镜在1000倍时，景深约为☆光学显微镜在1000倍时，景深约为⑦聚焦原理★电子显微镜电子聚焦☆光学显微镜机械聚焦⑧图像特点★电子显微镜黑白反差的电子图像，高分辨率像及衍射图像、格子像子☆光学显微镜产生七色光的颜色及干涉颜色⑨主要图像★电子显微镜：透射电子像，

5、二次电子像，背散射电子，吸收电子像，X射线面扫描像，X射线扫描像☆光学显微镜：光学透射像，反射像及其他干涉像，光的吸收、反射、透过形成光学图像⑩主要附件★电子显微镜：⑴电子衍射装置，⑵特征X射线波谱仪，⑶特征X射线能谱仪，⑷电子能量损失谱仪，⑸俄歇电子谱仪，⑹阴极发光装⑺电子通道花样附件，⑻微粒分析仪，⑼热台，冷台，⑽拉伸、旋钮、压缩，⑾电动势放大器，等等☆光学显微镜：⑴带偏光、反光附件，⑵锥光附件，⑶费氏台及旋转针，⑷热台及冷台，⑸油浸法应用，等等15电子探针分析与化学分析对比616透射电子显微分析与X射线分析的特点对比透射电子显微分析已广泛应用于微晶体和超微晶体结构分析，有着许多优点

6、，是微区研究的重要方法。与X射线晶体结构分析相比有许多不同的特点，它们都各有优点，也有各自的局限性。两种方法相互补充就可以深入研究许多重要的微区晶体结构晶体化学课题。（1）负电性电子束带负电荷，经过电磁场会发生偏转，通过调节磁透镜和扫描线圈等，可以改变电子束运动的轨迹和方向，使电子束聚焦。X射线不带电荷，在磁场中也不偏转。⑵穿透试样的能力电子束穿透试样能力差，透射电子显微镜工作条件要求高真空。为观察样品细节，必须将样品制成薄膜试样，厚度一般小于100-200nm，有时要求薄到10nm以下。而X射线穿透能力很强，较厚的晶体（几个mm）也可以穿过。6⑶射线的衍射能力电子衍射能力是X射线衍射能

7、力的倍左右，拍摄电子衍射花样的时间只需几秒钟，而X射线衍射则需几个小时曝光时间拍摄底片。电子衍射可研究许多超微结构现象。⑷波长及衍射特点电子束的波长可以通过调节加速电压来选择大小，当加速电压大于100kV时，电子波长可短于0.0037nm。而X射线分析是采用更换X射线光管来改变波长的，不同X射线光管发射波长分别为：铜靶CuKα,0.1542nm;铁靶FeKα，0.1937nm；钼靶MoKα，0.0711nm等。电子衍射时，电子的波长