实验室认可校准项目

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1、实验室认可校准项目序号测量仪器名称校准参数领域代码测量仪器类别/典型型号规范名称及代号（含年号）测量范围扩展不确定度（最佳测量能力）备注1百分表检定仪长度1309.17BJ-Ⅲ型JJG201-2008《指示类量具检定仪检定规程》（0～25）mm24mm:U=0.63μm(k=2) 2百分表长度1303.21(0～3)mmJJG34-2008《指示表(百分表和千分表)检定规程》(0～10)mm5mm:U=2.9μm(k=2) 3表面粗糙度样块表面粗糙度1305.01Ra(6.3～0.8)μmJJF1099-2003

2、《表面粗糙度样块校准规范》Ra:(0.01～10)µmRa0.4µm:U=7.2%(k=2) 4刀口形直角尺直线度1303.0475mmJJG7-2004《直角尺检定规程》≤200mm200mm:U=2.8µmk=2 5杠杆百分表长度1303.211mmJJG35-2006《杠杆百分表检定规程》(0～1)mm0.4mm:U=2.9μm(k=2) 6高度游标卡尺长度1303.20(0～300)mmJJG31-1999《高度卡尺检定规程》(0～500)mm291.8mm:U=14mm(k=2) 7角度块角度1308.

3、0115º～90º（13）JJG70-2004《角度块检定规程》15º～90º60º:U=0.5″(k=2) 8游标卡尺长度1303.23(0～200)mmJJG30-2002《通用卡尺检定规程》(0～1000)mm191.8mm:U=14mm(k=2) 9内径百分表长度1303.21(50～160)mmJJF1102-2003《内径表校准规范》(2～450)mm1mm:U=2.9μm(k=2) 10深度游标卡尺长度1303.20(0～200)mmJJG30-2002《通用卡尺检定规程》(0～500)mm121.

4、5mm:U=14mm(k=2) 11平面平晶平面度1303.11JPJ-1Φ80mmJJG28-2000《平晶检定规程》ф(30～150)mmФ80mmd:U=0.020μm(k=2) 12平行平晶平面度1303.11Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、ⅣJJG28-2000《平晶检定规程》D:(30～50)mmH:(15～91)mmIVD50mm:U=0.015μm(k=2) 平行度1303.13Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、ⅣJJG28-2000《平晶检定规程》D:(30～50)mmH:(15～91)mmIVH90mm:U=0.020μm(k=2) 

5、13千分表长度1303.21（0～1)mmJJG34-2008《指示表(百分表和千分表)检定规程》（0～1）mm0.4mm:U=1.8µm(k=2) 14千分尺长度1303.18(0～25)mmJJG21-2008《千分尺检定规程》(0～500)mm15.36mm:U=1.3mm(k=2) 15三角形直角尺角度1303.04160mmJJG7-2004《直角尺检定规程》≤315mm200mm:U=1.1µm(k=2) 16框式、条式水平仪角度1309.080.005mm/mJJF1084-2002《框式水平仪和条

6、式水平仪校准规范》(1～1.5)mm/m200mm,分度值0.02mm/m：U=4.0×10-3mm/m(k=2) 17万能角度尺角度1303.06(0-360)ºJJG33-2002《万能角度尺检定规程》(0～360)°30°20′：U=1.4′(k=2) 18焦度计顶焦度17CL2500JJG580-1996《焦度计检定规程》±25D+5.00D:U=2.2×10-2D(k=2) 19验光镜片箱顶焦度17SL-232JJG579-1998《验光镜片箱检定规程》±20D+5.00D:U=2.8×10-2D(k=

7、2) 20工具显微镜长度1308.08JX7JJG56-2000《工具显微镜检定规程》(0～200)mm200mm:U=0.9µm(k=2) 21投影仪长度1309.16JT3JJF1093-2002《投影仪校准规范》(0～200)mm25mm:U=0.28µm(k=2) 22测量显微镜长度1308.08.JC15JJG571-2004《读数、测量显微镜检定规程》(0～50)mm5mm:U=1.5μm（k=2） 23读数显微镜长度1308.08JC10JJG571-2004《读数、测量显微镜检定规程》(0～8)m

8、m5mm:U=0.25μm（k=2） 24光学经纬仪角度1309.02J2JJG414-2003《光学经纬仪检定规程》（0～360）º31º18′15.7″:U=0.2″(k=2) 25水准仪角度1309.07DS3JJG425-2003《水准仪检定规程》12″0º:U=1.8″(k=2) 26平尺直线度1303.021000mmJJF1097-2003《平尺校准规范》(