加法器实验

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1、实验五、组合逻辑电路的设计与测试一、实验目的1、能用指定芯片完成组合逻辑电路的设计。2、用实验验证所设计的逻辑电路的逻辑功能。3、熟悉各种集成门电路及正确使用集成门电路。4、掌握全加器的逻辑功能和使用方法。二、设计要求1、根据题意列出输入、输出真值表。2、利用卡诺图化简、写出最简的逻辑函数表达式。3、利用指定门电路实现逻辑功能。三、实验仪器与器件电子工作台，异或门可用74LS86,与门可用74LS08，与非门可用74LS00，或非门可用74LS02,导线若干。四、二进制全加器74LS283外部引脚排列如图5－1。图5－174LS2

2、83引脚图五、实验内容1、用指定的常用集成门设计一个两个一位二进制数相加的半加器，并测试该半加器的逻辑功能。（1）画出半加器的逻辑电路图（2）根据画出的逻辑电路图连线，并将两个输入端分别接逻辑开关，两个输出端分别接发光二极管，以显示高、低电平。（3）接好线后，进行测试，将结果记录到表5－1。方案一：用与门、异或门设计半加器如图5－2图5－2方案一设计图方案二：用与非门设计半加器图5－3方案二设计图表5－1半加器逻辑功能测试输入输出方案一：ABSC00011011方案二：AB000110112、全加器逻辑功能测试（1）将74LS28

3、3的A0、B0、C-1分别接逻辑开关，将A1、B1置0；S0、S1（C0）分别接逻辑电平显示。接通电源，改变A0、B0、C-1的状态，观察S0、S1（C0）的状态，结果记录到表5－2中。表5－2输入输出A0B0C-1C0S0000001010011100101110111(2)将A3、A2、A1、A0、B3、B2、B1、B0、C-1依次接逻辑开关，S3、S2、S1、S0、C3依次接逻辑电平显示。接通电源，改变A3、A2、A1、A0、B3、B2、B1、B0、C-1的状态（或自行设计），观察S3、S2、S1、S0、C3的状态，结果记录

4、到表5－3中。六、预习要求实验前画出已设计完成的逻辑电路及试验用的接线图，拟定实验仪器及元件，写出测试步骤。七、实验报告要求1、认真如实填写实验数据和结果。2、画出设计出的半加器逻辑电路图。3、分析实验结果，与理论值是否相符。4、总结组合逻辑电路的分析方法。表5－3A3A2A1A0B3B2B1B0C-1C3S3S2S1S0101001000101001010101001100101001101101001110101101110111111101111111111