实验四 线性系统的校正

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1、实验四线性系统的校正（一）频域法串联超前校正控制系统的校正与状态反馈就是在被控对象已确定，在给定性能指标的前提下，要求设计者选择控制器（校正网络）的结构和参数，使控制器和被控对象组成一个性能满足指标要求的系统。一．实验要求1．了解和掌握二阶系统中的闭环和开环对数幅频特性和相频特性（波德图）的构造及绘制方法。2．了解和掌握超前校正的原理，及超前校正网络的参数的计算。3．熟练掌握使用本实验机的二阶系统开环对数幅频特性和相频特性的测试方法。4．观察和分析系统未校正和串联超前校正后的开环对数幅频特性和相频特性，幅

2、值穿越频率处ωc′，相位裕度γ，并与理论计算值作比对。二．实验内容及步骤本实验用于观察和分析引入频域法串联超前校正网络后的二阶系统瞬态响应和稳定性。超前校正的原理是利用超前校正网络的相角超前特性，使中频段斜率由-40dB/dec变为-20dB/dec并占据较大的频率范围，从而使系统相角裕度增大，动态过程超调量下降；并使系统开环截止频率增大，从而使闭环系统带宽也增大，响应速度也加快。1．未校正系统的时域特性的测试未校正系统模拟电路图见图3-3-2。本实验将函数发生器（B5）单元作为信号发生器，OUT输出施加

3、于被测系统的输入端Ui，观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性。图3-3-2未校正系统模拟电路图图3-3-2未校正系统的开环传递函数为：模拟电路的各环节参数：积分环节（A5单元）的积分时间常数Ti=R1*C1=0.2S，惯性环节（A6单元）的惯性时间常数T=R2*C2=0.3S，开环增益K=R2/R3=6。实验步骤：注：‘SST’用“短路套”短接！（1）将函数发生器（B5）单元的矩形波输出作为系统输入R。（连续的正输出宽度足够大的阶跃信号)①在显示与功能选择（D1）单元中，通过波形选择按键选中

4、‘矩形波’（矩形波指示灯亮）。②量程选择开关S2置下档，调节“设定电位器1”，使之矩形波宽度≥3秒（D1单元左显示）。③调节B5单元的“矩形波调幅”电位器使矩形波输出电压=2.5V（D1单元右显示）。构造模拟电路：按图3-3-2安置短路套及测孔联线，表如下。（a）安置短路套（b）测孔联线模块号跨接座号1A1S4，S82A3S1，S63A5S4，S104A6S4，S8，S95B5‘S-ST’1信号输入r(t)B5（OUT）→A1（H1）2运放级联A1（OUT）→A5（H1）3运放级联A5（OUT）→A6（H

5、1）4负反馈A6（OUT）→A1（H2）5运放级联A6（OUT）→A3（H1）（3）运行、观察、记录：①运行LABACT程序，在界面自动控制菜单下的“线性系统的校正和状态反馈”-实验项目，选中“线性系统的校正”项，弹出线性系统的校正的界面，点击开始，用虚拟示波器CH1观察系统输出信号。②观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点击停止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性：超调量Mp=56.4%峰值时间tp=0.

6、32S调节时间ts=1.8S(△=5时)未校正系统的时域特性测试：Mp=62.4%tp=0.32sts=1.83s2．未校正系统的频域特性的测试本实验将数/模转换器（B2）单元作为信号发生器，自动产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化（0.5Hz~16Hz），OUT2输出施加于被测系统的输入端r(t)，然后分别测量被测系统的输出信号的对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。未校正系统频域特性测试的模拟电路图见图3-3-4。图3-3-4未校正系统频域特性测试的模拟电路图实验步骤：（1）将数/模转

7、换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入。（2）构造模拟电路：按图3-3-4安置短路套及测孔联线，在《1。未校正系统时域特性的测试》的联线表上增加频率特性测试模块，表如下。1信号输入r(t)B2（OUT2）→A1（H1）改变联线2幅值测量A3（OUT）→B7（IN4）增加联线3相位测量A3（OUT）→A8（CIN1）4A8（COUT1）→B4（A2）5B4（Q2）→B8（IRQ6）（3）运行、观察、记录：将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入，运行LABACT程序，在界面的自动控制菜单下的

8、线性控制系统的频率响应分析-实验项目，选择二阶系统，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始，则进行频率特性测试。详见第3.2节《线性控制系统的频域分析》。在未校正系统模拟电路的相频特性曲线上可测得未校正系统频域特性：穿越频率ωc=9.4rad/s，相位裕度γ=18.9°未校正系统的频域特性的测试:ωc=9.3rad/sγ=180°-160.9°=19.1°3．超前校正网络的设计①在未校正系统模拟电路的开环相频特性曲线（图3-3-5