实验一清零程序.pdf

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1、实验一清零程序一、实验目得:掌握汇编语言设计与调试方法,熟悉键盘操作。二、实验内容:把2000H~20FFH得内容清零。三、实验程序框图四、实验步骤:用连续或单步方式运行程序,检查2000~20FF中执行程序前后得内容变化。五、思考:假使把1000H~10FFH中得内容改成FF,如何修改程序,请分别用连续与单步方式运行程序来完成校验证六、程序清单(1)基本程序(文件名SW01、ASM)ORG0000HLJMPSE01ORG0640HSE01:MOVR0,#00H;(00H)送R0,R0为计数器MOV

2、DPTR,#2000H;(2000H)送DPTRLOO1:CLRA;累加器A清零MOVXDPTR,A;存储空间内容清零INCDPTR;DPTR加1INCR0;R0加1CJNER0,#FFH,LOO1;若R0不等于00,则跳转至LOO1继续循环LOOP:SJMPLOOPEND七、思考:假使把1000H~10FFH中得内容改成FF程序如下:ORG0000HLJMPSE01ORG0640HSE01:MOVR0,#00H;(00H)送R0,R0为计数器MOVDPTR,#1000H;(2000H)送DPTRL

3、OO1:MOVA,#FF;累加器A置FFMOVXDPTR,A;存储空间内容置FFINCDPTR;DPTR加1INCR0;R0加1CJNER0,#FFH,LOO1;若R0不等于00,则跳转至LOO1继续循环LOOP:SJMPLOOPEND现象:运行第一条程序可以发现1000H~10FFH中得内容变成FF,运行第二条程序1000H~10FFH中得内容改成00、而其它单元得内容不变.心得:该实验得内容比较简单.实验二P3、3口输入,P1口输出一、实验目得:掌握P3口、P1口简单使用。二、实验内容:P3、3

4、口输入一脉冲,P1口按16进制加一方式点亮发光二极管。三、实验步骤P3、3用导线连至K1开关,P1、0~P1、7导线连至L1~L8,K1拨动一次,L1~L8发光二极管按16进制方式加一点亮。快捷连线说明:P3、3→K1P1、0~P1、7→L1~L8(发光二极管)四、思考:修改程序,使发光二极管左移方式点亮。五、程序清单(1)基本程序(文件名HW01·ASM)ORG0000HLJMPJ100ORG0810HJ100:MOVA,#00HJ101:JBP3、3,J101MOVR2,#10HLCALLDEL

5、YJBP3、3,J101J102:JNBP3、3,J102MOVR2,#10HLCALLDELYJNBP3、3,J102INCAPUSHACCCPLAMOVP1,APOPACCAJMPJ101DELY:PUSH02HDEL2:PUSH02HDEL3:PUSH02HDEL4:DJNZR2,DEL4POP02HDJNZR2,DEL3POP02HDJNZR2,DEL2POP02HDJNZR2,DELYRETEND九,改变延时常数,使发光二极管闪亮时间改变。修改程序,使发光二极管闪亮移位方向改变得程序:OR

6、G0000HLJMPJ100ORG0810HJ100:MOVA,#09HJ101:JBP3、3,J101MOVR2,#10HLCALLDELYJBP3、3,J101J102:JNBP3、3,J102MOVR2,#10HLCALLDELYJNBP3、3,J102DECAPUSHACCCPLAMOVP1,APOPACCAJMPJ101DELY:PUSH02HDEL2:PUSH02HDEL3:PUSH02HDEL4:DJNZR2,DEL4POP02HDJNZR2,DEL3POP02HDJNZR2,DEL2

7、POP02HDJNZR2,DELYRETEND实验现象:当执行第一个程序时K1开关向下拨动一次时A中得内容从0依次加1,P1口得发光二极管也依次发光并向右移.当执行第二个程序时K1开关向下拨动一次时A中得内容从8依次减1,P1口得发光二极管也依次发光并向左移。心得:该实验运用了累加器A并不断加1、还有该程序连续两次判断P3、3口就是否为高电平在执行下一条语句与连续两次判断P3、3口就是否为低电平在执行下一条语句得原因就是为了消除开关得抖动.实验三中断基础实验一、实验目得:掌握MCS—51单片机中断原

8、理以及编程使用方法;理解下降沿中断与低电平中断得区别。二、实验预备知识MCS-51单片机有2个由/INT0、/INT1引脚输入得外部中断源。触发外部中断有两种方式,即下降沿引起中断或低电平引起中断.当编程TCON中得ITi(i=1或0,下同)为1时,则引起触发得方式为边沿触发方式,反之为低电平触发方式。每个中断源得中断请求能否得到响应要受两级“开关"得控制,即一个总“开关”EA与EXi得控制,只有当EA为1,且对应得分“开关”EXi也为1时,相应中断源得中断请求才能被

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