SPC 图形计算公式.doc

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1、SPC圖形計算公式1.直方圖(Histogram)22.制程能力管制圖(ProcessCapabilityChart)23.單一觀測值的管制圖(IndividualChart)34.樣本測定值平均值與全距管制圖(X-barRChart)35.平均值與標準差管制圖(X-barSChart)56.中位數與全距管制圖(X~RChart)67.個別值與移動全距管制圖(X-RmChart)88.不良率管制圖(PChart)99.不良數管制圖(PnChart)910.缺點數管制圖(CChart)1011.單位缺點數管制圖(UChart)101.直方圖(Histogram)設分析個數爲n(),

2、公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.求出最大值maxValue,最小值minValue;組數:columns=;組距:distOfcolumns=;平均值:=;標準差:=或;=;上限:USL=Nom+Upt;下限:LSL=Nom+Lowt;中心線:CL=;3sigma線:3S=;Scpk=SD=;PP=CP=;PPK=CPK=;2.制程能力管制圖(ProcessCapabilityChart)設分析個數爲n(),公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.平均值:=;標準差:=或;=;上限:USL=Nom+Upt;下限:LSL=Nom+Lowt;中心線:CL=;3sigm

3、a線:3S=;4sigma線:4S=;6sigma線:6S=;Scpk=SD=;PP=CP=;PPK=CPK=;1.單一觀測值的管制圖(IndividualChart)設分析個數爲n(),公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.求出最大值maxValue,最小值minValue;平均值:=;標準差:=或;上限:USL=Nom+Upt;下限:LSL=Nom+Lowt;Scpk=Std.Dev=;CPK=PPK=;CP=PP=;2.樣本測定值平均值與全距管制圖(X-barRChart)設分析個數爲n(),每組測定值爲N.公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.組數(樣本數):

4、TotalNum=;記Xbar圖的資料爲,每組資料爲,R圖的資料爲,以下爲計算方法:(1)計算每組的平均值及全距:每組的平均值=;全距=;(2)計算Xbar圖和R圖的CL,UCL,LCL值:XCL==RCL==XUCL=XLCL=RUCL=RLCL=(3)計算,stDev,PPK,PP,Scpk,CPK,CP值:=或stDev=(根據輸入的數據計算出的sigma值)PPK=PP=Scpk==(根據估算出的sigma值)CPK=CP=1.平均值與標準差管制圖(X-barSChart)設分析個數爲n(),每組測定值爲N.公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.組數(樣本數):To

5、talNum=;記Xbar圖的資料爲,每組資料爲,S圖的資料爲,以下爲計算方法:(1)計算每組的平均值及全距:每組的平均值=;全距=或;(2)計算Xbar圖和S圖的CL,UCL,LCL值:XCL==SCL==XUCL=XLCL=SUCL=SLCL=(3)計算,stDev,PPK,PP,Scpk,CPK,CP值:=或stDev=PPK=PP=Scpk==CPK=CP=1.中位數與全距管制圖(X~RChart)設分析個數爲n(),每組測定值爲N.公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.組數(樣本數):TotalNum=;記圖的資料爲,每組資料爲,R圖的資料爲,以下爲計算方法:(1

6、)計算每組的平均值及全距:每組的中位數:先將該組資料進行排序(從小到大或從大到小均可,程序中所用到的為從小到大排序),若N爲奇數則=;若N爲偶數則=;全距=;(2)計算,,,,,值:[說明]:有兩種計算方法.當制程不穩定時,使用管制圖管制制程,用估計值,估計值,計算出來的管制界限較用及計算出來的好,因為不會受極端值的影響.以下將兩種算法都表示出來.方法一:(程序中所用到的方法即為此種方法)XCL===RCL==XUCL=XLCL=RUCL=RLCL=方法二:XCL==;RCL=;XUCL=XLCL=RUCL=RLCL=(3)計算,stDev,PPK,PP,Scpk,CPK,CP值

7、:=或stDev=PPK=PP=Scpk==(當用估算時)Scpk==(當用估算時)CPK=CP=1.個別值與移動全距管制圖(X-RmChart)設分析個數爲n(),每組測定值爲N(建議值爲2).公稱值Nom,上公差Upt,下公差Lowt.X圖的組數(樣本數):n;圖的組數:n-N+1;記X圖的資料爲,每組資料爲,圖的資料爲,以下爲計算方法:(1)計算圖的移動全距:移動全距=;(2)計算X圖和圖的CL,UCL,LCL值:XCL==RCL==XUCL=XLCL=RUCL=RLCL=

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