《电子整机调试工艺》PPT课件

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时间:2019-06-23

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1、课题:电子整机调试工艺主讲:吴志毅(高级工程师)主要内容简介:了解调试工艺文件及调试工艺内容,掌握整机调试的工艺流程、调试工艺方案、调试文件、调试方案的基本内容等。知识目标1.熟悉电子产品调试的作用、制定电子产品调试方案总的原则和基本原则。2.掌握电子产品调试方案的基本内容、调试工艺文件、调试内容及工艺程序、调试电子产品的一般工艺程序、调试工艺流程、调试工艺流程的安排原则。技能目标1.能够编写小型电子整机或单元电路板的调试工艺文件、MF-47指针式万用表调试工艺文件。2.熟悉电子产品调试的工艺要求及实施方法、技巧,让学生掌握一项职业技能。教学目的教学重点:1.制定电子产品调试方案总的原则和基本

2、原则;2.电子产品调试方案的基本内容、调试工艺文件、调试内容及工艺程序;3.电子产品调试的一般工艺程序、调试工艺流程、调试工艺流程的安排原则。教学难点:学生根据所学内容自己编写小型电子整机或单元电路板的调试工艺文件、MF-47指针式万用表调试工艺文件、调试过程中故障的排除与维修。7.2、整机调试工艺◆调试是用测量仪表和一定的操作方法按照调试工艺规定对单元电路板和整机的各个可调元器件或零部件进行调整与测试,使产品达到技术文件所规定的技术性能指标。◆调试作用一、调试工艺方案及调试文件1、调试方案的制订(1)制定调试方案总的原则调试方案的制定应从技术要求、生产效率要求和经济要求等三个方面综合考虑,才

3、能制定出科学合理、行之有效的调试方案。(2)制订调试方案的基本原则3尽量采用新技术、新设备,但也要考虑到现有的设备条件,使调试方法、步骤合理可行,操作安全、方便,以提高生产效率及产品质量,降低成本。(3)调试方案的基本内容◆调试方案是工艺设计人员为某一电子产品的生产而制订的一套调试内容和做法,它是调试人员着手工作的技术依据。◆调试方案的基本内容2、调试工艺文件二、调试内容及工艺程序1.调试工作内容2、调试工艺程序调试一般包括调整和测试两部分工作。因电子产品种类繁多,功能各异,电路复杂,各产品单元电路的数量及类型也不相同,所以,调试程序也各不相同。一般调试的程序分为通电前的检查和通电调试两大阶段

4、。◆调试的一般工艺程序通电前的检查通电观察静态调试动态调试1、检查电源的正、负极是否接反。2、地线是否接触可靠。3、元器件、导线安装是否正确。4、各焊接点有无漏焊、桥接短路等现象。5、各种控制开关是否正常,用兆欧表测试绝缘电阻。6、检查保险丝是否符合规定值,整机是否接好负载或假负载。通电调试1、将电源正确地接入被调电路,观察有无异常现象。2、检查各种保险开关、控制系统是否起作用。3、各种风冷及水冷系统能否正常工作。4、各种继电器能否正常动作。5、保护电路能否起到保护作用等等。通电观察若没发现问题,可进行静态调试。静态调试是指在不加输入信号(或输入信号为零)的情况下,进行电路直流工作状态的测量和

5、调整。通过静态测试,可以及时发现已损坏的元器件,判断电路工作情况并及时调整电路参数,使电路工作状态符合设计要求。静态测试正常后再加输入信号进行动态调试。动态调试就是在电路的输入端接入适当频率和幅度的信号,循着信号的流向逐级检测电路各测试点的信号波形和有关参数,并通过计算测量的结果来估算电路性能指标,必要时进行适当的调整,使指标达到要求。三、调试工艺流程任何电子产品都有各自的技术指标要求,保持全部调试过程中的工艺完整性,是保证电子产品质量的关键环节。因此,通过这一次课的学习,要求掌握单元电路板和整机调试的一般工艺流程与方法,并通过实例加以说明;理解掌握调试过程中故障的查找与排除;了解调试的安全措

6、施。1、调试工艺流程的安排原则2小型电子整机或单元电路板的调试静态工作点的调试就是调整各级电路无输入信号时的工作状态。进行波形、点频(固定频率)的调试。频率特性指当输入信号电压幅度恒定时,电路的输出电压随输入信号频率而变化的特性。单元电路板经静态工作点、波形、点频以及频率特性等项目调试后,还应进行性能指标的综合测试。小型电子整机或单元电路板调试的一般工艺流程图先检查印制电路板上有无明显元器件插错、漏焊、拉丝焊和引脚相碰短路等情况。3、下面以学生实习安装MF-47指针式万用表为例说明小型电子产品的调试过程。◆MF-47指针式万用表经过机械部分、显示部分、电气部分安装以后,然后进行总装,总装完成以

7、后,再进行整机调试,使各项参数满足技术指标的要求。方法:校验表与被校表数值比对。调试工艺如下一、外观直观检查*检查项目按工艺文件而定,对于MF-47指针式万用表、表头、档位转换开关、测量线路板、面板、插座,机内有无异物、四周外观有无划痕等项。*检查顺序:先外后内,注意不要有漏检项目。调试工艺如下二、功能调试总电路图如图7-1所示三、调试工艺步骤1表头灵敏度I0和内阻R0测量(1)表头灵敏度I0的测

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