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1、2021/9/201半导体集成电路2021/9/202集成电阻器集成电容器互连(内连线)2021/9/203集成电路中的无源元件一般集成电路中使用的无源元件:电阻、电容_它们的制作工艺与NPN管(或MOS管)兼容常见的无源元件有电阻、电容、电感2021/9/204集成电阻、电容器的缺点如下:(1)精度低,绝对误差大;(2)温度系数较大;(3)可制作的范围有限,不能太大,也不能大小;(4)占用芯片面积大,成本高。———集成电路中多用有源元件,少用无源元件。2021/9/205集成电路中的电阻分为无源电阻和有源电阻。无源电阻通常是采用掺杂半
2、导体或合金材料制作的电阻.有源电阻则是将晶体管进行适当的连接和偏置,利用晶体管在不同的工作区所表现出来的不同的电阻特性来做电阻。在双极集成电路中用得最多的是基区扩散电阻(RSB≈100-200Ω/□)此外还有以下几种电阻:低阻类电阻,如发射区扩散电阻(RSE≈5Ω/□),掩埋层电阻(RS-BL≈20Ω/□)高阻类电阻,如基区沟道电阻(RSB1≈5-15kΩ/□),外延层电阻(RS-epi≈2KΩ/□)高精度电阻,如离子注入电阻(RS1≈0.1-20kΩ/□),薄膜电阻(RSF≈10-400Ω/□)2021/9/206常用集成电阻器基区扩
3、散电阻发射区扩散电阻、埋层扩散电阻基区沟道电阻、外延层电阻离子注入电阻多晶硅电阻、MOS电阻2021/9/207氧化膜pnP型扩散层(电阻)3.1.1基区扩散电阻掺杂半导体具有电阻特性,不同的掺杂浓度具有不同的电阻率,利用掺杂半导体所具有的电阻特性,可以制造电路所需的电阻器。扩散电阻是指采用热扩散掺杂的方式构造而成的电阻。这是最常用的电阻之一,工艺简单且兼容性好,缺点是精度稍差。氧化膜pnnP型扩散层(电阻)基区扩散电阻(Rs=100-200/)L、W为电阻器的长度和宽度VCCLwRs(或R□)是掺杂半导体薄层的薄层电阻,又称方块电阻.
4、L/W是电阻所对应的图形的方数。知道掺杂区的方块电阻→根据所需电阻的大小计算出需要多少方块→根据精度要求确定电阻条的宽度→得到电阻条的长度。氧化膜pnnP型扩散层(电阻)基区扩散电阻(Rs=100-200/)端头修正拐角修正因子横向扩散修正因子薄层电阻值Rs的修正VCCLw上式的计算结果是比较粗糙的,实际的计算中要考虑以下几方面:2021/9/2010端头修正因为电子总是从电阻最小的地方流动,因此,从引线孔流入的电流,绝大部分是从引线孔正对着电阻条的一边流入的,从引线孔侧面和背面流入的电流极少,因此,在计算端头处的电阻值时需要引入一些修
5、正,称之为端头修正。端头修经常采用经验数据,以端头修正因子k1表示整个端头对总电阻方块数的贡献。例如k1=0.5,表示整个端头对总电阻的贡献相当于0.5个方块数。氧化膜pnnP型扩散层(电阻)VCCLw2021/9/2011图3.2给出了不同电阻条宽和端头形状的修正因子的经验数据,对于大电阻L≫W情况,端头对电阻的贡献可以忽略不计。2021/9/2012拐角修正在设计大电阻时,通常将电阻设计成折叠形式,如图所示。对于折弯形状的电阻,通常每一直条的宽度都是相同的,在拐角处是一个正方形但这个正方形不能作为一个电阻方来计算,这是因为在拐角处的
6、电流密度是不均匀的,靠近内角处的电流密度大,靠近外角处的电流密度小。经验数据表明,拐角对电阻的贡献只有0.5个方块数,即拐角修正因子k2=0.5。132021/9/20横向扩散修正因子横向扩散修正因子m主要考虑以下两个方面:(1)由于存在横向扩散,所以基区扩散电阻在表面处最宽,即。(2)杂质浓度在横向扩散器表面与扩散口正下方的表面区域不同,其浓度由扩散窗口处Ns(≈6x1018cm-3)逐步降低到外延层处的Nepi(≈1015~1016cm-3).如果假设横向扩散区的纵向杂质分布与扩散窗口下相同,则对于基区扩散电阻,其有效宽度为。202
7、1/9/2014薄层电阻值Rs的修正基区扩散后还有多道高温出来工序,所以杂质会进一步往里推进,同时表面的硅也会进一步氧化,所以做成管子后,实际的基区电阻值Rsa比原来测量的Rs高,经验公式为Rsa=KaRs其中,Ka为常数,可由实验来确定,一般在1.06~1.25之间。2021/9/2015小阻值电阻可采用胖短图形:一般阻值电阻可采用瘦长图形对大阻值电阻可采用折叠图形:当L»W时,可不考虑k1;当W»xjc时,可不考虑横向修正m。2021/9/2016基区扩散电阻最小条宽WR,min的设计基区扩散电阻的方块电阻RS由双极集成电路工艺确定
8、对基区扩散电阻图形的设计,实际上是根据需要的阻值R和其它性能、工艺参数去设计电阻的方数(L/W)、形状和最小条宽。RS固定,电阻的阻值由方数(L/W)决定电阻的宽度越大,则占用的面积越大。因此,如何设计满足
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