EFTESD问题的测量和定位

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1、EFT/ESD问题的测量和定位发表于2006年5月作者：沈学其容向系统科技有限公司ComplianceDirectionSystemsInc.AbbreviationEFT：ElectricalFastTransient，电快速瞬变脉冲群ESD：ElectroStaticDischarge，静电放电EMC：ElectromagneticCompatibility，电磁兼容EUT：EquipmentUnderTest，被测物PCB：PrintedCircuitBoard,印刷电路板Abstract

2、电子产品不能通过EFT/ESD测试的根本原因，在于由EFT/ESD脉冲引起的瞬态、高压、宽频干扰电流会流入内部电路模块，该干扰电流产生的电磁场会干扰产品内部关键信号线的时序或者影响器件的正常工作，传统的方法无法测量这个干扰电流的电流路径，也难于确认被影响的信号线或者器件。本文介绍一种能测量和定位EFT/ESD问题的工具——E1抗干扰开发系统，详细介绍了如何使用E1进行电子产品EFT/ESD问题的测量，敏感点定位，以及电路修改的有效性评估。TheessentialreasonofEUTfailed

3、inEFT/ESDtesting,isthatthetransient,highvoltage,broad-spectrumdisturbancepulsesarosedisturbancecurrentflowthroughelectronicmodules.Thecriticalsignalsorsensitivecomponentsmaybeinfluencebythemagneticfieldofthedisturbancecurrent.Itishardtomeasurethepath

4、ofthecurrent,anditisdifficulttolocatecriticalstructurebytraditionalmethod.TheE1disturbanceimmunitydevelopmentsystemsimulatesdisturbanceprocesseswithintheEUT.Disturbancecurrents,electricandmagneticfieldsareinjecteddirectlyintotheelectronicmodulesindif

5、ferentwaystodeterminethesusceptiblestructuresonthecircuitboard,understandthecouplingmechanismandenabletheimplementationoftheoptimummodifications.Keywords电快速瞬变脉冲群【EFT】，静电放电【ESD】，电磁兼容，敏感点定位Author’sinformationSHEN,XUEQI沈学其ComplianceDirectionSystemsInc.容

6、向系统科技有限公司ChiefRepresentative首席代表Email:george@emcdir.com序言大部分电子产品需要通过电快速瞬变脉冲群（EFT）【根据IEC61000-4-4】和静电放电（ESD）【根据IEC61000-4-2】等项目的标准测试。EFT和ESD是两种典型的突发干扰，EFT信号单脉冲的峰值电压可高达4kV，上升沿5ns。接触放电测试时的ESD信号的峰值电压可高达8kV，上升时间小于1ns。这两种突发干扰，都具有突发、高压、宽频等特征。在进行标准的EFT/ESD测试

7、时，把干扰脉冲从设备外部耦合到内部，同时监视设备的工作状态。如果设备没有通过这些标准的测试，测试本身几乎不能提供任何如何解决问题的信息。要想定位被测物（EUT）对突发干扰敏感的原因和位置，必须进行信号测量。但是如果采用示波器进行测量的话，EUT内部的干扰会产生变化。例如图1中，使用金属导线的探头连接到示波器，会形成一个额外的干扰电流路径，从而影响测试结果，很难定位产生ESD/EFT问题的原因。图1用示波器测量EFT/ESDEFT/ESD干扰电路正常工作的机理在进行EFT/ESD等抗扰度测试时，需

8、要把相应的突发干扰施加到EUT的电源线，信号线或者机箱等位置。干扰电流会通过电缆或者机箱，流入EUT的内部电路，可能会引起EUT技术指标的下降，例如干扰音频或视频信号，或者引起通信误码等；也可能引起系统复位，停止工作，甚至损坏器件等。电子产品的抗干扰特性，取决于其PCB设计和集成电路的敏感度。电路对EFT/ESD信号敏感的位置，一般能被精确定位。形成这些“敏感点”的原因，很大程度上取决于GND/VCC的形状以及集成电路的类型和制造商。实践发现，产生EFT/ESD问题的最主要的原因是，干扰电流的主