基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计

基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计

ID:35058241

大小:6.09 MB

页数:64页

时间:2019-03-17

基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计_第1页
基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计_第2页
基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计_第3页
基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计_第4页
基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计_第5页
资源描述:

《基于p沟道存储单元的高可靠性闪存设计》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、MWiii学校代码:10285U学号;20134246003IIIIII乂■如#SOOCHOWUNIVERSITY■HHH'""?^''"^*^ffBlHlBBBBHBP^^|^^|^|^^^^^■■基于p巧道存储单元的高可靠性^BB闪存设计 ̄^—;DesignQfHi曲ReliabilityFlashMemory良asedonP?ChannelMemoryel!C研究生姓名姜伟_.__.m指导教师姓名张立军专业名称测试计量技术及仪器

2、—、研究方向誠电舰计^所在院部城市轨道交通学院论文提交日期166.20年月基于P沟道存储单元的高可靠性闪存设计摘要Flash是一种广泛应用于SoC上的重要存储器,在高密度数据的存储和嵌入式系统中的应用不断增加。随着工艺的进步,晶体管特征尺寸降低到了十个纳米的数量级,随机掺杂扰动等带来的工艺偏差、阈值电压降低带来的高漏电流等也给Flash设计带来了极大的挑战。论文以Flash存储器工作的可靠性为研究重点,主要对Flash存储器的外围电路中的灵敏放大器电路、电荷泵电路、字线驱动电路和电平转换电路进行了优化设计,提高了外围电路模块的

3、可靠性。基于标准CMOS工艺的8Mbits非易失性存储器。本文系统平台建立在CadenceVirtuoso之上,用Hspice进行了电路的功能模块仿真,而整体电路的仿真用的是Hsim软件,电路版图使用Laker进行绘制。本论文的主要内容和研究对象是:首先,本文对存储单元采用何种沟道的浮栅MOS管进行了对比分析,将P沟道浮栅MOS管和N沟道浮栅MOS管的可靠性做了对比,得出P沟通存储单元相对于N沟道存储单元在可靠性方面的优势,因此本文最终选择了P沟道浮栅MOS管作为存储单元。其次,本文研究了Flash存储器外围电路中的灵敏放大器电路、电荷泵电路、字线驱动电路和电

4、平转换电路。对这几个外围电路的传统电路进行分析,找出各自存在的缺点,并据此设计出符合要求的电路,通过Hspice对设计出的电路进行仿真分析,所设计电路都达到了设计目标。另外,本文在最后一章节中首先简要介绍了版图的设计布局、布线规则,之后对本课题的IP版图设计进行了简要介绍。然后对存储器进行整体仿真并对编程、读取和片擦除的仿真波形图进行了重点分析。关键词:Flash;可靠性;P沟道浮栅MOS管;外围电路;版图设计;整体仿真作者:姜伟指导老师:张立军IDesignofHighReliabilityFlashMemoryBasedonP-ChannelMemoryC

5、ellAbstractFlashmemoryiswidelyusedinSoC.Theapplicationsofhighdensitydatastorageandembeddedsystemsarecontinuouslyincreasing.Alongwiththeprogressofthetechnology,transistorfeaturesizesdowntotennanometerorderofmagnitude.SmallprocessdeviationwillmakechallengestoFlashmemorydesign.Inthispa

6、per,IfocusonthereliabilityoftheFlashmemory.IdosomeoptimizationfortheperipheralcircuitsoftheFlashmemory.The8Mbitsnonvolatilememoryisbasedon0.18μmstandardCMOSprocess.ThesystemisbuiltonCadenceVirtuoso,Hspiceisusedtoperformmodulefunctionalsimulation,Hsimsoftwareisusedtodowholecircuitsim

7、ulation,circuitlayoutisdrawnusingLaker.Themaincontentandtheresearchobjectofthispaperis:Firstly,thisarticleanalyzeswhichchanneloffloatinggateMOSusedtothememorycell.Andthencomparesthep-channelwithn-channelfloatinggateMOS'sreliabilityperformance.Thereliabilityperformanceofp-channelisbe

8、tterthann-channel.S

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。