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时间:2019-02-11
《nhpp类软件可靠性增长模型的分析》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、硕+学何论文摘要非齐次泊松过程(NHPP)类模型是用非齐次泊松过程来描述软件的失效过程,用来评价软件当前可靠性,预测可靠性随时间变化的趋势,其应用简单,拟合效果良好,是应用最广的一类模型。但由于模型数量庞大,各模型之间假设条件和适用环境均不相同,实际应用时该如何选择取舍模型,成为工程人员的难题。近年来的一些研究集中于寻找模型的共性特征及开发模型的通用框架,应用时再根据软件开发和调试环境把通用框架中涉及的函数具体化,以开发出符合特定环境的模型。目前已有的模型框架较为陈旧,无法反映软件可靠性模型研究的
2、新成果,导致模型框架的实用性降低。本文在对经典软件可靠性模型的研究方法和技术路线进行分析的基础上,提出了一个改进的NHPP类模型框架。文章首先介绍了有关软件可靠性模型的一些基本概念以及涉及到的数学基础知识,然后列举了几种经典的软件可靠性模型及其参数估计方法。最后,针对现有的NHPP类软件可靠性增长模型,本文建立了一个既考虑关联故障和构件结构,又考虑软件的不完美测试、故障检测率和故障改正效率随时间变化的NHPP类软件可靠性增长模型框架。一些已经存在的NHPP类软件可靠性增长模型是这个框架的特例。关键
3、词:软件可靠性增长模型;非齐次泊松过程;关联故障:软件构件结构硕十学位论文AbstractNHPPmodelsuseNon-homogeneousPoissonProcesstodescribefailureprocessofsothvare,SOthattoassesspresentreliabilityandpredictreliabilitytrend.Wimapplyingsimplyandgoodfiteffect,NHPPmodelsarethemostwidelyusedSRGM.Y
4、.ettheamountofmodelsiSexpanding,eachmodelhasdifferentassumptionandapplicationenvironment.SOmodelselectionisbecomingachallengetoengineers.Recentresearchesfocusonlookingforcommoncharacteristicsanddevelopinguniversalframeworkofmodels,andembodytherelevant
5、functionaccordingtosoftwaredevelopmentandtestingenvironmenttoobtainspecificmodelwhenapplying.Existingframeworkistooobsoletetoincludenewachievementsofsoftwarereliabilityresearch.111epapergivesanewNHPPframeworkbasedonanalysisofresearchmethodsofclassicmo
6、dels.Itfirstintroducessomebasicconceptsaboutsoftwarereliabilitymodelsandrelativemathematicalknowledge.Thenitenumeratesseveraltypicalsoftwaremodelsandtheirparameterestimations.Attheend,consideringthepresentNHPPsoftwarereliabilitygrowthmodels,thispaperp
7、roposesanimprovedframework,whichconsidersfaultcorrelationsandsoftwarecomponentSconstruction,aswellasimperfectsoftwaredebugging,time-dependentfaultdetectionrate,andtime-dependentfaultremovalefficiency.ManyexistingNHPPsoftwarereliabilitygrowthmodelsales
8、pecialcasesoftheframework.KeyWords:softwarereliabilitygrowthmodel;non-homogeneousPoissonprocess;faultcorrelation;softwarecomponentSconstruction硕十学何论文第1章绪论1.1课题研究背景可靠性数学理论起源于20世纪30年代,最早被用于机器维修问题的研究,此外,Weibull、Gumbel和Epstein等人研究了材料的疲劳寿命问题和有关的极值理
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