业工x射线探伤仪系统设计 辐射剂量与防护课程设计--本科毕业设计.doc

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1、辐射剂量与防护课程设计工业X射线探伤仪系统设计1.X射线探伤原理X射线是一种波长很短的电磁波，是一种光子，波长为10-10cm，X射线有下列特性：（1）穿透性X射线能穿透一般可见光所不能透过的物质。其穿透能力的强弱，与X射线的波长以及被穿透物质的密度和厚度有关。X射线波长愈短，穿透力就愈大；密度愈低，厚度愈薄，则X射线愈易穿透。在实际工作中，通过球管的电压伏值（kV）的大小来确定X射线的穿透性（即X射线的质），而以单位时间内通过X射线的电流（mA）与时间的乘积代表X射线的量。（2）电离作用X射线或其它射线（例如γ射线）通过物质

2、被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的X射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算X射线的量。检测设备正是由此来实现对零件探伤检测的。X射线还有其他作用，如感光、荧光作用等。2.影像形成原理X射线影像形成的基本原理，是由于X射线线的特性和零件的致密度与厚度之差异所致。24辐射剂量与防护课程设计由于在压铸过程中，零件的成型会因工艺参数、机床状况变化而有所不同，因此成型后的零件厚度、致密度也有差异，而经X射线照射，其吸收及透过X射线量也不一样。因而，在

3、透视荧光屏上有亮暗之分。表1为零件厚差异和X射线影像的关系。图1为X射线照相法示意图：24辐射剂量与防护课程设计3.几种常见的工程探伤方法3.1荧光磁粉探伤荧光磁粉探伤是采用荧光磁粉，加装黑光照射装置的磁粉探伤机。它是采用固定式、分立式结构，对工件进行交流荧光磁粉探伤。适用于机械、汽车、军工、航天、内燃机、铁道等行业对轴类、齿轮、盘套类等铁磁性材料制成的零件的无损检验，能发现零件表面及近表面因铸造、锻压、焊接、拉伸、淬火、研磨、疲劳而产生的裂痕以及夹渣等极细微的缺陷。荧光磁粉探伤机的基本原理：自然中磁力线总能保持其连续性。当铁

4、磁性工件放在使其饱和的磁场中时，磁力线便会被引导通过工件。如果磁力线遇到工件材料上的不连续，则磁力线就会绕过这些磁导率较低的（磁阻较大）区域而泄漏出工件表面形成“漏磁场”。这样在缺陷的两侧便会产生磁极,将磁粉（或磁悬液)吸附到裂纹等缺陷周围，便可形成明显可见的线状或点状堆积。3.2渗透探伤渗透探伤是利用毛细现象来进行探伤的方法。对于表面光滑而清洁的零部件，用一种带色(常为红色)或带有荧光的、渗透性很强的液体，涂覆于待探零部件的表面。若表面有肉眼不能直接察知的微裂纹，由于该液体的渗透性很强，它将沿着裂纹渗透到其根部。然后将表面的

5、渗透液洗去，再涂上对比度较大的显示液(常为白色)。放置片刻后，由于裂纹很窄，毛细现象作用显著，原渗透到裂纹内的渗透液将上升到表面并扩散，在白色的衬底上显出较粗的红线，从而显示出裂纹露于表面的形状，因此，常称为着色探伤。若渗透液采用的是带荧光的液体，由毛细现象上升到表面的液体，则会在紫外灯照射下发出荧光，从而更能显示出裂纹露于表面的形状，故常常又将此时的渗透探伤直接称为荧光探伤。此探伤方法也可用于金属和非金属表面探伤。其使用的探伤液剂有较大气味，常有一定毒性。3.3涡流探伤24辐射剂量与防护课程设计涡流探伤是由交流电流产生的交变

6、磁场作用于待探伤的导电材料，感应出电涡流。如果材料中有缺陷，它将干扰所产生的电涡流，即形成干扰信号。用涡流探伤仪检测出其干扰信号，就可知道缺陷的状况。影响涡流的因素很多，即是说涡流中载有丰富的信号，这些信号与材料的很多因素有关，如何将其中有用的信号从诸多的信号中一一分离出来，是目前涡流研究工作者的难题，多年来已经取得了一些进展，在一定条件下可解决一些问题，但还远不能满足现场的要求，有待于大力发展。涡流探伤的显著特点是对导电材料就能起作用，而不一定是铁磁材料，但对铁磁性材料的效果较差。其次，待探工件表面的光洁度、平整度、边界等对

7、涡流探伤都有较大影响，因此常将涡流探伤用于形状较规则、表面较光洁的铜管等非铁磁性工件探伤。3.4射线探伤射线探伤是利用射线的穿透性和直线性来探伤的方法。这些射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器来接收。常用于探伤的射线有X射线和同位素发出的γ射线，分别称为X射线探伤和γ射线探伤。当这些射线穿过(照射)物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，获得的信号就弱。因此，用射线来照射待探伤的零

8、部件时，若其内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过的强度就大些，若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收器也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平