接地耐压泄露标准

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时间:2018-07-22

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1、接地、耐压、泄露测试问答[原创]为什么要进行接地电阻测试亦称接地连续性测试, 接地测试必须对所有一类产品(Class I)进行。 测试的目的是保证产品上的所有在单一绝缘失效的情形下会变成带电体,并且可以被使用者接触到的导电性部件被可靠连接到电源输入的接地点。 换句话说, 一个接地测试使用大电流的低电压源加到接地回路来核实接地路径的完整性。通过测量连接在保护接地连接端子或接地触点和零件之间的阻抗来判断是否符合标准要求, 阻抗不超出产品安全标准确定的某个值则认为是符合要求的。 一定要记住, 从结构和设计观点来看, 用做保护接地的导体不应

2、该包含任何的开关或保险丝。测试要求:大多数标准对于进行接地测试提出下列的参数要求:·被测设备(EUT)必须承受高一定时间的直流或交流电流但是电压要很低。·在保护接地连接端子或接地触点和被接地零件之间的电压降必须被测量。·电阻必须使用通过的电流和产生的电压降来进行计算(欧姆定律)。阻抗不应该超出某个值,不同的的安全标准可能要求不同的值。 例如, IEC 60950-1 要求测试电压不超出12 V 。 电流可能是交流或直流,产品额定电流的1.5 倍或25 A(二者选择比较大的)。 测试持续时间必须是1 分钟, 并且连接在保护接地端子或接

3、地触点和必需被接地的零件之间的阻抗不能超出0.1欧姆 ,不包括电缆的阻抗。 一些标准, 譬如CAN/CSA-C22.2 No. 60950-1 或UL 60950-1 (含加拿大国家差异),如果设备的额定电流不超过16A,则要求测试电流为40 A ,持续时间为2 分钟。除加拿大标准外, 多数标准要求在25 A下测试并且维持1 分钟,这代表过流保护设备能承受的最大的电流和最久的操作时期。 最大值25 A大约是为多数额定点流不超过16 A的线连接可插入A型设备安装开关的额定值的1.5 倍。 加拿大国家接线法规(Canadian Nati

4、onal Wiring Code)的要求与这些要求感觉是非常相似的, 他们假设, 保险丝在两倍额定值的电流下动作时间不超过1 分钟。 UL标准则认为,由于多数电源电路使用20 A线路开关保护, 故障电流将会是40 A 并且不超过2 分钟。[原创]为什么要进行耐电压测试(一)电介质强度测试, 亦称hipot 测试, 大概是最多人知道的和经常执行的生产线安全测试。实际上,表明它的重要性是每个标准的一部分。 hipot 测试是确定电子绝缘材料足以抵抗瞬间高电压的一个非破坏性的测试。 这是适用于所有设备为保证绝缘材料是足够的的一个高压测试。

5、 进行hipot 测试的其它原因是, 它可以查出可能的瑕疵譬如在制造过程期间造成的漏电距离和电气间隙不够。进行型式测试的时候, hipot 测试是在某些测试(譬如失效, 潮态及振动测试)之后进行来确定是否因为这些测试造成绝缘的退化。但是,日常生产进行的hipot 测试, 是制造过程中的测试来确定是否所生产的产品的结构是与型式测试所用产品的结构相同。 一些由生产流程造成的缺陷可以通过在线hipot 测试检查出来,例如, 变压器绕组电气间隙和爬电距离减小。 这样的故障可能起因于绕线部门的一名新操作员。 其它例子包括检查绝缘材料的针孔瑕疵

6、或发现一个过大的焊点。大多数安全标准使用2xU + 1000 V 的惯例作为基本的绝缘材料测试的依据, 这里的U 是操作电压(rms值)。 这个惯例仅仅作为一个指导, 对于个别标准特别是IEC 60950 提供了一个具体的表格来定义根据测量到的实际工作电压来确定确切的测试电压1.至于使用1000 V 作为基本惯例的原因是产品的绝缘材料在日常使用中可能承受瞬间过电压 。 实验和研究表示, 这些过电压通常高达1000 V 。测试方法:编制:ChilyWu接地、耐压、泄露测试问答高压通常是应用的在横跨被测试绝缘材料的二个部件之间, 譬如测

7、试设备(EUT)的一次侧电路(Primary Circuit)和金属外壳。 如果绝缘材料在两个部件之间是足够的, 那么加在两个由绝缘体分离的导体之间的大电压只能产生非常小的电流流过绝缘体。 虽然这个小电流是可接受的, 但是空气绝缘或固体绝缘不应该发生击穿。 因此, 需要注意这个电流是因为局部放电或击穿的结果, 而不是由于电容联结引起的。另外一个例子是对介于电源的一次(Primary)和二次(Secondary)电路之间的绝缘材料进行测试。 这时所有输出短接在一起。 耐压测试仪的接地探针与短接在一起的输出相连, 同时高压探针与L 和N

8、连接(L和N短接) (参见图1) 。在hipot 测试期间EUT 不工作。 必须注意, 在进行型式测试期间, 理想的情况是先加低于规定的电压的1/2, 然后逐渐上升,并且在10 秒中达到规定电压,并且维护1 分钟。 然而,大多数测试仪

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