集成电路设计基础作业2011

集成电路设计基础作业2011

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1、集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业1(第一周)第一章集成电路设计概述基础习题1-1按规模划分,集成电路的发展已经经历了哪几代?它的发展遵循了一条业界著名的定律,请说出是什么定律?1-2什么是无生产线集成电路设计?列出无生产线集成电路设计的特点和环境。1-3多项目晶园(MPW,Multi-ProjectWafer)技术的特点是什么?对发展集成电路设计有什么意义?1-4集成电路设计需要哪4个方面的知识?要求:从以上题目中任选2题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业2(第二周)第二章集成电路材料、结构与理论习题2-1为什么硅(Si,Silicon

2、)材料在集成电路技术中起着举足轻重的作用?2-2砷化镓(GaAs,Galliumarsenide)和磷化铟(InP,Indiumphosphide)材料各有哪些特点?2-3在怎样的条件下金属与半导体形成欧姆接触?在怎样的条件下金属与半导体形成肖特基接触?2-4说出多晶硅(Polysilicon)在CMOS工艺中的作用?2-5列出你知道的异质半导体材料系统。2-6绝缘体上硅(SOI,SiliconONInsulator)材料是怎样形成的,有什么特点?2-7肖特基接触和欧姆接触各有什么特点?2-8简述双极型晶体管(BJT,BipolarJunctionTransis

3、tor)和金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET,Metallic-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor)的工作原理。要求:从以上题目中任选4题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业3(第三周)第三章集成电路基本工艺习题3-1写出晶体外延的意义,列出三种外延生长方法,并比较各自的优缺点。3-2写出掩模在IC制造过程中的作用,比较整版掩模和单片掩模的区别,列举三种掩模的制造方法。3-3写出光刻的作用,光刻有哪两种曝光方式?3-4X射线制版和直接电子束直写技术替代光刻技术有什么优缺点?3-5说出半导体工艺

4、中掺杂的作用,举出两种掺杂方法,并比较其优缺点。3-6列出干法和湿法氧化法形成SiO2的化学反应式。要求:从以上题目中任选3题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业4(第四周)第四章集成电路设计概述基础习题4-1Si工艺和GaAs工艺都有哪些晶体管结构和电路形式?4-2比较CMOS工艺和GaAs工艺的特点。4-3什么是MOS工艺的特征尺寸?4-4为什么硅栅工艺取代铝栅工艺成为CMOS工艺的主流技术?4-5为什么在栅长相同的情况下NMOS管速度要高于PMOS管?4-6简述CMOS工艺的基本工艺流程。4-7常规N阱CMOS工艺需要几层掩模?每层掩模分别有

5、什么作用?要求:从以上题目中任选4题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业5(第五周)第五章MOS场效应管的特性习题5-1画出MOSFET的基本结构。5-2写出MOSFET的基本电流方程。5-3什MOSFET的饱和电流取决于哪些参数?5-4为什么MOSFET是平方率器件?5-5什么是MOSFET的阈值电压?它受哪些因素影响5-6什么是MOS器件的体效应。5-7说明L、W对MOSFET的速度、功耗、驱动能力的影响。5-8MOSFET按比例收缩后对器件特性有什么影响?5-9MOSFET存在哪些二阶效应?分别是由于什么原因引起的?5-10说明MOSFET噪

6、声的来源、成因及减小的方法。要求:从以上题目中任选4题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作业6(第六周)第六章集成电路器件及SPICE模型习题6-1芯片电容有几种实现结构?6-2采用半导体材料实现电阻要注意哪些问题?6-3画出电阻的高频等效电路。6-4芯片电感有几种实现结构?6-5微波集成电路设计中,场效应晶体管的栅极常常通过一段传输线接偏置电压,试解释其作用。6-6微带线传播TEM波的条件是什么?6-7常在芯片上设计微带线时,如何考虑信号完整性问题?6-8列出共面波导的特点。要求:从以上题目中任选4题完成!!集成电路设计基础—电子信息工程10课程作

7、业7(第七周)第七章SPICE数模混合仿真程序的设计流程及方法习题7-1芯集成电路电路级模拟的标准工具是什么软件?能进行何种性能分析?7-2写出MOS的SPICE元件输入格式与模型输入格式。7-3用SPICE程序仿真出MOS管的输出特性曲线。7-4构思一个基本电路如一个放大器,画出电路图,编写SPICE输入文件,执行分析,观察结果。要求:从以上题目中任选2题完成!!1/万-1/千地质测量质量要求表(吉林参考)11/万1/5千1/2千1/千1/万草测1/2千草测1234567一地质观测研究程度沉积岩1对地层划分到组或阶,如范围大应进一步二分或三分,确定其时代,测定

8、其厚度及产状2.对标志层

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