《放射性测量技术》PPT课件

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1、第2章放射性测量技术测量内容：探测、分析、监测、剂量。探测器：射线信号电信号(电流、电压脉冲)气体电子—离子对气体探测器电离常用种类半导体电子—空穴对半导体探测器激发闪烁体荧光闪烁探测器§2.1概述气体探测器脉冲电离室电流、累计电荷种类正比计数器G—M计数管介质：隋性Ar气+(CH４)各种圆柱型和钟罩型G-M管高压极收集极保护极高压负载电阻外壳灵敏体积绝缘子结构：平板型电离室结构：圆柱型电离室输出信号的物理过程以平行板电离室为例[结论]脉冲计数n正比于放射活度脉冲幅度正比于入射粒子的能量V(t)t各类气体探测器的工作特性区各类气体探测器特性的对比

2、探测器电离室正比计数器G—M计数管特性区电离室区正比区G—M区输出脉冲N0e/CMN0e/C等幅闪烁探测器工作原理工作过程：激发→荧光→光电子→光电倍增→电压脉冲闪烁体利用射线的荧光效应将射线能转变为光能的物体。无机含少量激活剂的无机盐。ZnS(Ag)，α强度。NaI(Tl),CsI(Tl),γ强度、能量。有机芳香族化合物晶体，蒽，发光标准。液体，β。塑料(苯乙稀加入POP、POPOP聚合的固溶体)，β。各类闪烁体的发射光谱各类闪烁体的物理特性光电倍增管结构与工作原理光阴极Cs3Sb,K2CsSb等,发射光电子。倍增极6-14个，二次电子发射。

3、阳极收集倍增后的电子，在负载上形成电压脉冲。光电倍增管兼有能量转换及放大作用。。光电倍增管光谱响应光阴极在光照射下，发射光电子的概率是入射光波长的函数，称作“光谱响应”。在选用闪烁体时，应选用使二者匹配的闪烁体。主要性能光电量子转换效率电子倍增系数,M～105—107要求工作高压有较好稳定性。暗电流无光照时自身产生的阳极电流，由热电子射、漏电、光子和正离子反馈等引起。使用注意事项1）避光使用；2）保持闪烁体与光电倍增管光学接触良好。§2.2液闪计数器特点1.对软β探测效率高，4π测量及避免了射线的自吸收和吸收。2.溶纳样品较大,可测量强度较弱的样

4、品。液闪装置符合加法放大前置前置门控单道Ⅰ单道Ⅱ定标器液闪仪框图双管符合电路符合电路使暗电流本底降低104－１０5倍。例:τ＝１０-8s，,则偶然符合：单道脉冲辐度分析器甄别阈Vd输入信号V＞Vd,才有出。反符合因此，辐度分析器只能使V下＜V＜V上的脉冲通过。闪烁液脂溶性甲苯，二甲苯主溶剂水溶性二氧环溶剂组成助溶剂甲苯中加甲醇，表面活性剂，二六环加萘主溶质PPO溶质助溶质POPOP波长转换，增强匹配液闪过程的淬灭现象淬灭导致闪烁过程能量传递效率降低，使光输出减小，输出脉冲幅度降低，最终使探测效率降低的过程。化学淬灭非荧光物质竞争激发能。颜色淬灭

5、有色物质吸收荧光。光子淬灭非均相β发射体颗粒吸收β射线。淬灭校正内标准法通过在样品中加入已知活度的标准源，由引起的附加计数，求仪器计数效率的校正法。式中：道比值法外标准法淬灭校正过程§2.3常用辐射防护监测仪器辐射报警仪用途辐射报警仪主要用于放射性工作场所放射性物质，包括放射源及可能的沾污源以及工作场所辐射水平预警测量。类型使用比较普遍的一类报警仪是G-M计数管型报警仪，用于-辐射或辐射的测量。用辐射的一般为薄端窗式G-M管。InspecotrAlert手持式α、β、γ和辐射检测仪本产品采用GM探测器，用以监测放射性工作场所和表面,实验室的

6、工作台面、地板、墙壁、手、衣服、鞋的α、β、γ和X放射性污染计数测量以及环境剂量率，是一款性价比高的辐射测量仪器。技术性能与特点：1.检测α、β、γ和X射线；2.计数测量、总计数测量和剂量率测量；3.最低响应能量：20Kev（γ射线），对Cs-137源为5.8Cps/μSv/h;探测下限：对I-125是0.02微居;4.效率（4）：接触下：对Sr-90源约38%，C-14源约5.3%；P-32源约33%；Co-60源约3%5.G-M计数管,有效直径45mm,云母窗密度1.5-2.0mg/Cm³;6.CPS：≤2500CPS范围时≤15%，在250

7、0-5000CPS范围≤20%；7.测量单位：该检测仪常用单位（mR/h或CPM）或SI单位（μSv/h或CPS)。表面沾污仪表面沾污仪主要是用来测量实验室台面，仪表等物体表面污染，以便发现并及时清除。表面沾污仪常用的探测器类型有G-M管，正比计数管和闪烁计数器等，其测量对象是表面污染面源粒子的表面出射率。仪器读数直接测量的量为粒子的计数率n(cpm)，其与表面污染水平有如下关系：其中,K称为刻度系数（也叫做总探测效率）。其意义是，对应每单位污染水平，仪器所测到的计数率。表面污染水平所谓单位污染水平是指，每100厘米2的污染表面在单位时间内向上所出射

8、的表面粒子数。刻度系数K与射线的探测效率及探测器端窗的面积大小等因素有关。仪器刻度过程根据探测器端窗面积，选