专业英语4new

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1、6.1TheChallengesforPhysicalLimitationsinSiMicroelectronicsI.INTRODUCTIONForthepastfourdecades,thesemiconductorindustryhasexperiencedexponential(指数的)progress,thisisuniquenotonlyonitsdevelopmentspeed,butalsoonitsinfluenceonthesocietyandlifeofhumanbeing.在过去的四十年中,半导体工业经历了

2、指数式的进步,这不仅仅是在发展速度上,而同时表现在对人类社会和生活的影响上自从40年前晶体管发明以来,微电子技术无论是从其发展速度及对人类社会生产和生活的影响,都可以说是科学技术史上空前的。Thefeaturesizeofsemiconductordevicesarecontinuedtoscaledownforhigherintegrateddensity,fastercircuitspeedandlowerpowerdissipation(耗散).为了更高的集成度,更快的电路速度和更低的功耗,半导体器件的特征尺寸不断的缩小。C

3、urrentlythe0.25μmCMOStechnologyhasbecometheprevailingtechnologyforVLSIapplications.目前0.25微米的CMOS技术对于VLSI来说已经成为主流技术Meanwhile,0.1μmCMOSand0.04μmNMOSdeviceshaverecentlybeenfabricatedinresearchlaboratories,andbytheyear2010,the64GbDRAMwillbeexpectedtobefabricatedwith0.07μm

4、lithography.目前,0.1微米的CMOS和0.4微米的NMOS器件都已经在在实验室中制备成功,到2010年,64G的DRAM将可望以0.07微米的光刻技术制造出来。Basedonsuchatrend,somekeyquestionsonsiliconmicroelectronics’furtherdevelopmentare:基于这种趋势,硅微电子将来发展的主要问题是:Whatarethefundamentallimitationsofsiliconmicroelectronicswhen()scalingdown?Ar

5、eweapproachingtothelimits?Whatcanwedofacingtothelimitationsandthelimits?当尺寸下降以后,硅微电子技术的基本限制是什么?我们是否接近到了极限?面临的极根和限制,我们可以做些什么?6.1.2.THECHALLENGESFORPHYSICALLIMITATIONSINSIMICROELECTRONICSSince1972,thelimitationsofSiMOSFETscalingdownhasbeingresearchedwidely,thepredictedm

6、inimumfeaturesizeofMOSFETchangedfrom0.25μmto0.lμm,butitwasbrokenthrougheverytime,nowthe0.04μmhasbeenfabricatedsuccessfully.自1972年以来,(科学家们)对硅金属氧化物半导体场效应晶体管的极限尺寸进行了广泛的研究,对金属氧化物半导体场效应晶体管的最小形体尺寸预测从0.25微米变到0.1微米,但是每一次预测都被打破了,现在0.04微米的晶体管已经成功制造出来。Originallytheresearchoflimi

7、tationswerefocusedonthelimitationsofdevicesscalingdown.最初,对极限尺寸的研究集中在微电子技术方面However,asthemicroelectronicstechnologydevelopedinto0.lμmandbeyond,theresearchesoflimitationsshouldbefocusedonthewholeintegratedsysteminsteadofonlyonthedevices.然而,随着微电子技术发展到0.1微米及以下,对极限尺寸的研究必须

8、集中到整个集成系统而不是单个器件。Andthenewconcepts,newmethodshouldbetakenfacingtothechallengesoflimitations.要挑战极限,必须应用一种新的技术,新的方法。Thefutureo

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